Partitioning for Selective Flip-Flop Redundancy in Sequential Circuits
Notice bibliographique
Résumé
As the number of transistors on a chip begins to exceed 1 billion and their sensitivity to defects begins to degrade overall yield, it will be mandatory to assign a portion of the transistors for the purposes of built-in- self-test (BIST) and built-in-self-repair (BISR) as part of the supporting circuitry. Here, we focus on the self-test and self-repair of flip-flops (FF's), and their associated interconnect, using spare FF's to replace faulty ones. We describe our method to determine the number of spares based on delay and yield analysis. Using these results, we partition the flip-flops in a sequential design to improve the yield while keeping the delay and area overhead low. Next, we apply this redundancy approach only to non-critical paths in the circuit so that no timing penalty is incurred, and find that it can still provide significant improvement in the overall yield. A number of sequential benchmark circuits from ITC '99 are compared with and without redundant flip-flops, and also with and without partitioning. The total area overhead of our method is 8% on average while improving the yield by 6-29% and incurring no timing penalty.
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Comment cette classification a été obtenuedéplier
Prédiction distillée sur la base complète
Imitation des enseignantsNi prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.
Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,000 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,000 | 0,000 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,000 |
| Science ouverte | 0,000 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,000 | 0,000 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,000 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découleClassification
machine, non validéePrédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.
Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».