MétaCan
Menu
Retour à la cohorte
Enregistrement W1977400442 · doi:10.1116/1.3549114

Surface activated bonding of copper through silicon vias and gold stud bumps at room temperature

2011· article· en· W1977400442 sur OpenAlex
Matiar M. R. Howlader, F. Zhang, M. Jamal Deen, Tadatomo Suga, Akira Yamauchi

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.

Notice bibliographique

RevueJournal of Vacuum Science & Technology A Vacuum Surfaces and Films · 2011
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
Thématique3D IC and TSV technologies
Établissements canadiensMcMaster University
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésMaterials scienceInterconnectionComposite materialElectroplatingCopperDeformation (meteorology)SiliconContact resistanceSurface roughnessOptoelectronicsMetallurgyLayer (electronics)

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

A comprehensive investigation of the surfaces of copper through silicon vias (Cu-TSVs) and gold stud bumps is presented. These vias and stud bumps were bonded at room temperature using a nanobonding and interconnection equipment. The influence of heating on the bonded interface was also studied. In order to achieve an intimate contact between the Au-stud bumps and Cu-TSVs, the stud bumps were flattened under an external force of 20 N before bonding. The surface roughness of the flattened area was improved due to deformation of the bumps. Specimens with high deformation provided better alignment accuracy than those with low deformation. The Cu-TSV surface showed inhomogeneous behavior due to the influence of electroplating and chemical mechanical polishing. Tensile pulling test of the bonded interfaces showed three fractures modes in the bulk of the Au bump and the Au pad. The electrical resistance of the bonded interface was dependent on the surface morphology of the bumps and TSVs, the distance between the bumps and TSVs, the locations of the bumps and TSV with respect to the argon fast atom beams, and the distribution of external force during bonding. Heating at 200 °C for 60 h in air increased the electrical resistance of the bonded interface. This investigation shows that the vertical integration of Au/Cu at room temperature and low bonding force can be applied to three-dimensional interconnections for low cost miniaturized systems.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,022
Score d'incertitude au seuil0,885

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0010,000
Bibliométrie0,0010,001
Études des sciences et des technologies0,0000,001
Communication savante0,0000,001
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0000,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,018
Tête enseignante GPT0,231
Écart entre enseignants0,214 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle