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Enregistrement W1979382037 · doi:10.1143/jjap.40.281

Effect of Yttria-Stabilized Zirconia Thickness on Crystal Structure and Electric Property of Epitaxial CeO<sub>2</sub>/Yttria-Stabilized Zirconia Buffer Layer in Metal/Ferroelectric/Insulator/Semiconductor Structure

2001· article· en· W1979382037 sur OpenAlex

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

fundUn bailleur canadien est enregistré sur le travail.
no affAucune affiliation canadienne : ce travail est invisible pour une base fondée sur la seule affiliation.
Aucune affiliation canadienne. Une base fondée sur la seule affiliation (le devis habituel) n'aurait jamais vu ce travail. C'est l'un des travaux qui justifient l'inversion de la base.

Notice bibliographique

RevueJapanese Journal of Applied Physics · 2001
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueSemiconductor materials and devices
Établissements canadiensnon disponible
Organismes subventionnairesNatural Sciences and Engineering Research Council of Canada
Mots-clésMaterials scienceYttria-stabilized zirconiaCubic zirconiaPulsed laser depositionFerroelectricityEpitaxyMicrostructureElectron diffractionLayer (electronics)OptoelectronicsThin filmDielectricDiffractionComposite materialOpticsNanotechnologyCeramic

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

The effect of yttria-stabilized zirconia (YSZ) film thickness on crystal structure and electric properties of epitaxial CeO 2 /YSZ films was investigated. The CeO 2 /YSZ films were prepared on Si(001) substrates by pulsed laser deposition (PLD). X-ray diffraction measurements and reflection high energy electron diffraction (RHEED) observation indicated that heteroepitaxial growths of CeO 2 and YSZ were achieved with a cube-on-cube relation (CeO 2 [100] ∥YSZ[100] ∥Si[100]) regardless of the YSZ film thickness. Measurement of C – V characteristics showed ion drift; this ion drift decreased with the decrease of YSZ film thickness. Measurement of I – V characteristics indicated that the leakage-current for all films was low enough for the insulating layer in the metal/ferroelectric/insulator/semiconductor (MFIS) structure, however for the films with a thicker YSZ layer, a difference in current was observed at various measurement positions. The reason for this was ascribed to the differences in the microstructure.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesMéta-épidémiologie (sens strict)
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,003
Score d'incertitude au seuil1,000

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0020,000
Bibliométrie0,0000,001
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,008
Tête enseignante GPT0,215
Écart entre enseignants0,207 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle