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Enregistrement W1991711957 · doi:10.1109/ectc.2007.373881

Effects of Organic Package Warpage on Microprocessor Thermal Performance

2007· article· en· W1991711957 sur OpenAlexaff
Seah S. Too, J.E. Hayward, R.N. Master, Tek-Seng Tan, Kee-Hean Keok

Notice bibliographique

Revuenon disponible
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueElectronic Packaging and Soldering Technologies
Établissements canadiensAdvanced Micro Devices (Canada)
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésDie (integrated circuit)Flip chipMaterials scienceThermal greaseComposite materialIntegrated circuit packagingCuring (chemistry)Thermal resistanceMicroprocessorSiliconOptoelectronicsMechanical engineeringThermalThermal conductivityIntegrated circuitElectrical engineeringEngineeringLayer (electronics)Adhesive

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Efficient heat dissipation is a major challenge for the packaging of high power microprocessors. This paper discusses a novel lid assembly process and characterization techniques that were successfully developed for a high power microprocessor in high volume production. For a high power microprocessor flip chip organic package with under fill, die warpage as a result of CTE mismatch between the silicon and organic substrate is a challenge. A laser-based surface profiling technique was used to characterize the die and package warpage. Die warpage is a function of temperature. There is little die warpage at under fill curing temperatures (stress-free stage), but die warpage increases when the package is cooled from under fill curing temperature to room temperature. The bond line thickness of the thermal interface material between the die and the lid (TIM1) is critical for microprocessor thermal performance, and there is significant TIM bond line thickness variation from die edge/corner to die center as a result of the die warpage. TIM is in compression at the die center and in tension at die edges and die corners. Parallelism between the silicon die and lid surface is another critical factor. If there is serious lid tilt with respect to silicon die surface, one side of TIM will be stretched more that the other side after cooling. Therefore, lid tilt is another factor requires good process control. C-mode scanning acoustic micrography (CSAM) was found to be effective in revealing TIM faults when certain polymers TIMs are used. Another challenge in characterizing the TIM bond line thickness (BLT) is the nature of the gel-type TIM. Even though it is cured, the TIM remains very soft and compliant, which is the desirable property for a good thermal performance and reliability.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,014
Score d'incertitude au seuil0,369

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,003
Tête enseignante GPT0,181
Écart entre enseignants0,178 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeExpérimental (laboratoire)
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations11
Publié2007
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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