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Enregistrement W1996257548 · doi:10.1002/sia.1343

Composition and growth of anodic and thermal oxides on InP and GaAs

2002· article· en· W1996257548 sur OpenAlex

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.
aboutLe titre ou le résumé porte un signal canadien du lexique géographique.

Notice bibliographique

RevueSurface and Interface Analysis · 2002
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueSemiconductor materials and devices
Établissements canadiensInstitute for Microstructural Sciences
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésX-ray photoelectron spectroscopyOxideElectrolyteIndiumSubstrate (aquarium)Materials scienceThermal oxidationAnalytical Chemistry (journal)AnodeLayer (electronics)Inorganic chemistryChemistryChemical engineeringNanotechnologyElectrodeOptoelectronicsMetallurgyPhysical chemistry

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Abstract Research using surface analytical techniques (Auger, XPS and 16 O/ 18 O SIMS) to characterize anodic films (formed in aqueous electrolytes at ambient temperature) and thermal oxides (formed at ∼500°C) on both InP and GaAs is summarized. Anodic and thermal oxides on InP comprise an outer indium‐rich layer and an inner layer containing In 2 O 3 , phosphorus oxide and P–O compounds with indium. For anodic films, sequential 16 O/ 18 O SIMS experiments indicate oxygen ion ingress with inner layer growth at the film/substrate interface and outer layer growth of In 2 O 3 at the film/electrolyte interface. Electrical measurements performed on metal–insulator–semiconductor (MIS) structures indicate the oxides on InP to be ‘leaky’. Thermal oxides formed on GaAs in oxygen consist primarily of Ga 2 O 3 with a small amount of arsenic (a few per cent) at the outer oxide surface as both As 2 O 3 and As 2 O 5 and a significant accumulation of elemental arsenic at the oxide/substrate interface. This probably leads to a high density of electronic traps and poor electrical properties. Anodic oxides (∼40 nm thick) formed in phosphate solution, however, have better electrical properties exhibiting low current densities (up to 6 V), making these films potentially useful for device applications. Copyright © 2002 Crown in the right of Canada. Published by John Wiley & Sons, Ltd.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,127
Score d'incertitude au seuil0,419

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,012
Tête enseignante GPT0,211
Écart entre enseignants0,199 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle