On-chip inductors incorporating porous-Si and intrinsic-amorphous-Si films for rf integrated circuits
Notice bibliographique
Résumé
The quality factor (Q) of inductors on silicon (Si) is limited by the series resistance of the metal at low frequency and by the substrate resistivity at high frequency. Oxide is generally used to isolate the useful signal of the inductor from the lossy Si substrate. However, stoichiometric silica (SiO2) is processed at high temperature which restricts the possibility of post-complementary metal-oxide semiconductor integration, and due to the large thermal mismatch with Si, thick oxide films introduce considerable stress. In this work, we apply electrochemically formed porous Si (PS) and intrinsic amorphous Si (i-a-Si:H) deposited at low temperature (250°C) in an approach asan isolation bilayer for planar inductors on Si for rf integrated circuits. An improvement of morethan 45% in Q was measured at a frequency of 6.4GHz for 1.6nH inductor incorporating PS andi-a-Si:H films. The experimental results presented indicate that these low-temperature materials are promising for the isolation of rf devices on low-resistivity Si.
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Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,001 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,001 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,001 | 0,001 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,001 |
| Communication savante | 0,000 | 0,001 |
| Science ouverte | 0,001 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,000 | 0,000 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,000 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
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score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découleClassification
machine, non validéePrédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.
Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».