Use of the focused ion beam to locate failure sites within electrically erasable read only memory microcircuits
Notice bibliographique
Résumé
Occasional electronically erasable programmable read only memory retention failures occurred after thousands of read write cycles. The physical sites of the failed cells were known, but not their location within the individual memory bits. Memory storage transistors have normal gate oxides and thinner tunneling oxide regions for programming. Focused ion beam (FIB) images are brighter when samples are grounded due to a passive voltage contrast mechanism. Thus, using precision etching and polishing to expose memory cells, transistors with leaky (grounded) gate-to-channel characteristics stand out. FIB examination successfully identified the failed transistors and additionally highlighted previously undetected leaky but still functional cells. FIB etching was next used to physically isolate the normal gate and tunneling oxide regions of failed transistors. This proved that the leakage only occurred within the tunnel oxide regions. Further analysis using precision focused ion beam/transmission electron microscopy cross sectioning and atomic force microscopy, identified local thickness reductions in the tunnel oxide which occurred during manufacture. Gate dielectric breakdown failures increase very rapidly with reduced thickness. Calculations showed that unacceptable gate oxide leakage would develop in a time comparable with the observed memory loss failures.
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Comment cette classification a été obtenuedéplier
Prédiction machine sur la base complète
Imitation des enseignantsNi prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.
Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,000 | 0,001 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,000 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,000 | 0,000 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,000 |
| Science ouverte | 0,000 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,001 | 0,000 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,001 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découleClassification
machine, non validéePrédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.
Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».