Oblique incidence effects in direct x‐ray detectors: A first‐order approximation using a physics‐based analytical model
Notice bibliographique
Résumé
PURPOSE: The authors describe the modifications to a previously developed analytical model of indirect CsI:Tl-based detector response required for studying oblique x-ray incidence effects in direct semiconductor-based detectors. This first-order approximation analysis allows the authors to describe the associated degradation in resolution in direct detectors and compare the predictions to the published data for indirect detectors. METHODS: The proposed model is based on a physics-based analytical description developed by Freed et al. ["A fast, angle-dependent, analytical model of CsI detector response for optimization of 3D x-ray breast imaging systems," Med. Phys. 37(6), 2593-2605 (2010)] that describes detector response functions for indirect detectors and oblique incident x rays. The model, modified in this work to address direct detector response, describes the dependence of the response with x-ray energy, thickness of the transducer layer, and the depth-dependent blur and collection efficiency. RESULTS: The authors report the detector response functions for indirect and direct detector models for typical thicknesses utilized in clinical systems for full-field digital mammography (150 microm for indirect CsI:Tl and 200 microm for a-Se direct detectors). The results suggest that the oblique incidence effect in a semiconductor detector differs from that in indirect detectors in two ways: The direct detector model produces a sharper overall PRF compared to the response corresponding to the indirect detector model for normal x-ray incidence and a larger relative increase in blur along the x-ray incidence direction compared to that found in indirect detectors with respect to the response at normal incidence angles. CONCLUSIONS: Compared to the effect seen in indirect detectors, the direct detector model exhibits a sharper response at normal x-ray incidence and a larger relative increase in blur along the x-ray incidence direction with respect to the blur in the orthogonal direction. The results suggest that the oblique incidence effect in direct detectors can be considered to be caused mostly by the geometry of the path where the x-ray beam and its secondary particles deposit energy in the semiconductor layer.
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Comment cette classification a été obtenuedéplier
Prédiction machine sur la base complète
Imitation des enseignantsNi prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.
Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,001 | 0,003 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,001 | 0,001 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,001 | 0,001 |
| Bibliométrie | 0,001 | 0,001 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,001 |
| Communication savante | 0,001 | 0,001 |
| Science ouverte | 0,002 | 0,001 |
| Intégrité de la recherche | 0,001 | 0,001 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,002 | 0,001 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découleClassification
machine, non validéePrédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.
Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».