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Enregistrement W2029532081 · doi:10.1116/1.3497019

Simulation of electron beam lithography of nanostructures

2010· article· en· W2029532081 sur OpenAlexaff
Maria Stepanova, Taras Fito, Z. Szabó, Kamlesh Alti, Adegboyega P. Adeyenuwo, K. Koshelev, Mirwais Aktary, S. K. Dew

Notice bibliographique

RevueJournal of Vacuum Science & Technology B Nanotechnology and Microelectronics Materials Processing Measurement and Phenomena · 2010
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueAdvancements in Photolithography Techniques
Établissements canadiensApplied Nanotools (Canada)University of AlbertaNational Institute for Nanotechnology
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésResistLithographyElectron-beam lithographyMaterials scienceCathode raySecondary electronsComputationElectronNanolithographyFabricationNanotechnologyOptoelectronicsComputer sciencePhysics

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

The authors report a numeric simulation tool that they developed for the modeling and analysis of electron beam lithography (EBL) of nanostructures employing a popular positive tone resist polymethylmethacrylate (PMMA). Modeling and process design for EBL fabrication of 5–50 nm PMMA structures on solid substrates is the target purpose of the simulator. The simulator is functional for exposure energies from 1 to 50 keV with arbitrary writing geometries. The authors employ a suite of kinetic models for the traveling of primary, secondary, and backscattered electrons in the resist, compute three-dimensional (3D) distributions of the yield of main-chain scission in PMMA, and convert these into the local volume fractions of fragments of various sizes. The kinetic process of development is described by the movement of the resist-developer interface with the rate derived from the mean-field theory of polymer diffusion. The EBL simulator allows the computation of detailed 3D distributions of the yield of main-chain scission in PMMA for various conditions of exposure, the corresponding volume fractions of small fragments, and the clearance profiles as functions of the development in time and temperature. This article describes the models employed to simulate the EBL exposure and development, reports examples of the computations, and presents comparisons of the predicted development profiles with experimental cross-sectional resist profiles in dense gratings.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction machine sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,002
Version: metacan-v3-hybrid-931329e0061cStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Simulation ou modélisation · Signal consensuel: Simulation ou modélisation
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: aucune
Score de désaccord entre enseignants0,007
Score d'incertitude au seuil0,013

Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,002
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0010,001
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0010,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0020,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,006
Tête enseignante GPT0,233
Écart entre enseignants0,227 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeSimulation ou modélisation
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations39
Publié2010
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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