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Enregistrement W2038961225 · doi:10.1021/ma0482664

High Contrast Imaging of Interphases in Ternary Polymer Blends Using Focused Ion Beam Preparation and Atomic Force Microscopy

2005· article· en· W2038961225 sur OpenAlex

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.

Notice bibliographique

RevueMacromolecules · 2005
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueIon-surface interactions and analysis
Établissements canadiensPolytechnique MontréalRegroupement Québécois sur les Matériaux de Pointe
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésMaterials scienceComposite materialPolymerHigh-density polyethyleneIon beamPolystyreneTernary operationPolyethyleneFocused ion beamInterphasePhase (matter)Chemical engineeringBeam (structure)IonOpticsChemistry

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

In this paper, we demonstrate the applicability of focused ion beam (FIB) preparation followed by tapping mode atomic force microscopy (TMAFM) to analyze model interphase thicknesses in high density polyethylene/polystyrene/poly(methyl methacrylate) (HDPE/PS/PMMA) ternary polymer blends prepared by melt mixing. Previous work has shown that, in a polyethylene matrix, this blend exhibits a dispersed phase composed of a well-segregated PMMA core and a PS shell. Control of the PS/PMMA composition ratio allows for the control of shell thickness and hence this blend provides an excellent model system to analyze interphase thicknesses. A focused ion beam preparation was applied to the melt blended samples to prepare very smooth surfaces without mechanical deformation (i.e., no plowing or interfacial debonding), while TMAFM was used to obtain high-resolution images of the composite droplets in order to measure the mean diameter of the droplets and PS shell thickness. It is shown that the three polymer components have different ion beam etching rates, which results in a topological contrast between the phases of the blends when viewed by tapping mode atomic force microscopy. In this case, PMMA has the highest etching rate, while PS has the lowest and HDPE is intermediate. This high level of contrast between the phases allows for a clear identification of the PS interphase. Even the fine features of particles in the process of coalescing can be clearly identified. To ensure that this procedure was not altering the blend phase sizes in any way, average composite droplet diameters obtained with FIB preparation and TMAFM measurements were compared with the classic technique of cryomicrotome preparation and SEM measurements. The dispersed phase size data from the two procedures compare well. The FIB/TMAFM approach allows for the estimation of the PS interphase thicknesses from 100 to 200 nm depending on the PS/PMMA composition ratio. The approach presented here avoids the pitfalls associated with microtomy such as microvoiding, deformation of the materials and debonding at the interphase. It also eliminates the need for extraction of polymers with selective solvents and staining techniques used to provide contrast. This technique provides significant advantages for the analysis of multicomponent polymer blends or blends with complex morphologies. It also provides a first step toward a new approach for analyzing interphase thickness in polymer blends.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,191
Score d'incertitude au seuil0,497

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,004
Tête enseignante GPT0,244
Écart entre enseignants0,239 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle