MétaCan
Menu
Retour à la cohorte
Enregistrement W2044645291 · doi:10.1109/vlsid.2013.145

Tutorial T10: Post - Silicon Validation, Debug and Diagnosis

2013· article· en· W2044645291 sur OpenAlexaff
Prabhat Mishra, Masahiro Fujita, Virendra Singh, N. Tamarapalli, Sharad Kumar, Rajesh Mittal

Notice bibliographique

Revuenon disponible
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueIntegrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
Établissements canadiensAdvanced Micro Devices (Canada)
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésDebuggingComputer scienceObservabilityEmbedded systemOverhead (engineering)Software engineeringSoftware bugReliability engineeringSystems engineeringSoftwareComputer architectureEngineeringProgramming language

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Summary form only given, as follows. The complete presentation was not made available for publication as part of the conference proceedings. Drastic increase in design complexity along with the emergence of new failure mechanisms in the nanometer regime has led to significant increase in the complexity of verification, validation, and debug of integrated circuits. In spite of extensive efforts, it is not always possible to detect all the functional errors and electrical faults during pre-silicon validation. Post-silicon validation is used to detect design flaws including the escaped functional errors as well as electrical faults. In this tutorial, we will provide a comprehensive coverage of both fundamental concepts and recent advances in post-silicon validation, debug and diagnosis. The tutorial presenters (3 industry experts and 3 faculty members) will provide unique perspectives on both academic research and industrial practices. First, we will discuss various challenges associated with post-silicon validation and debug. Next, we will describe various techniques for automated generation of directed tests to activate both functional errors and electrical faults. We will cover recent advances in observability enhancement through signal selection and low-overhead trace hardware design. We will also describe various state-of-the-art post-silicon debug approaches for modern microprocessors and SoC designs. Next, we will present examples of real-life design failures, and successful debug scenarios in industrial settings. Finally, we will conclude the tutorial with discussion on emerging issues and future directions for successful postsilicon validation and debug.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction machine sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,003
Version: metacan-v3-hybrid-931329e0061cStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Sans objet · Signal consensuel: Sans objet
GenreSignal candidat: Méthodes · Signal consensuel: Méthodes
Score de désaccord entre enseignants0,062
Score d'incertitude au seuil0,209

Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,003
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0020,001
Méta-épidémiologie (sens large)0,0010,001
Bibliométrie0,0020,001
Études des sciences et des technologies0,0010,000
Communication savante0,0030,003
Science ouverte0,0010,002
Intégrité de la recherche0,0020,003
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0620,043

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,005
Tête enseignante GPT0,174
Écart entre enseignants0,169 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeSans objet
Domainenon disponible
GenreMéthodes

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations0
Publié2013
Routes d'admission1
Résumé présentoui

Explorer davantage

Même sujetIntegrated Circuits and Semiconductor Failure AnalysisTravaux en français237 207