MétaCan
Menu
Retour à la cohorte
Enregistrement W2048703883 · doi:10.1117/12.861038

Dual-illumination NIR system for wafer level defect inspection

2010· article· en· W2048703883 sur OpenAlexaff
Yana Williams, Kevin G. Harding, Gil Abramovich, Christopher Nafis, Eric Tkaczyk, K.W. Andreini, Henry Chen, Glenn Bindley

Notice bibliographique

RevueProceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE · 2010
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueAdvanced Semiconductor Detectors and Materials
Établissements canadiensRedlen Technologies (Canada)
Organismes subventionnairesU.S. Department of Homeland Security
Mots-clésWaferDetectorComputer scienceMaterials scienceFabricationProcess (computing)Automated X-ray inspectionStack (abstract data type)Focus (optics)OpticsOptoelectronicsImage processingArtificial intelligenceTelecommunications

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

CdZnTe is a high efficiency, room temperature radiation detection material that has attracted great interesting in medical and security applications. CZT crystals can be grown by various methods. Particularly, CZT grown with the Transfer Heater Method (THM) method have been shown to have fewer defects and greater material uniformity. In this work, we developed a proof-of-concept dual lighting NIR imaging system that can be implemented to quickly and nondestructively screen CZT boule and wafers during the manufacturing process. The system works by imaging the defects inside CZT at a shallow depth of focus, taking a stack of images step by step at different depths through the sample. The images are then processed with in-house software, which can locate the defects at different depths, construct the 3D mapping of the defects, and provide statistical defect information. This can help with screening materials for use in detector manufacturing at an early stage, which can significantly reduce the downstream cost of detector fabrication. This inspection method can also be used to help the manufacturer understand the cause of the defect formation and ultimately improve the manufacturing process.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction machine sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,001
Version: metacan-v3-hybrid-931329e0061cStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: aucune
Score de désaccord entre enseignants0,008
Score d'incertitude au seuil0,025

Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,001
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0010,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,001
Science ouverte0,0010,001
Intégrité de la recherche0,0010,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0080,003

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,014
Tête enseignante GPT0,226
Écart entre enseignants0,212 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeExpérimental (laboratoire)
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations1
Publié2010
Routes d'admission1
Résumé présentoui

Explorer davantage

Même revueProceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIEMême sujetAdvanced Semiconductor Detectors and MaterialsTravaux en français237 207