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Enregistrement W2053825572 · doi:10.1118/1.2349301

Energy and integrated dose dependence of MOSFET dosimeter sensitivity for irradiation energies between and

2006· article· en· W2053825572 sur OpenAlex

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.

Notice bibliographique

RevueMedical Physics · 2006
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueRadiation Effects in Electronics
Établissements canadiensUniversité LavalHôtel-Dieu de Québec
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésDosimeterDosimetryMOSFETMaterials scienceCalibrationOptoelectronicsVoltageIrradiationSensitivity (control systems)Threshold voltageRadiationOpticsTransistorNuclear medicinePhysicsMedicineElectronic engineeringNuclear physics

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Since metal-oxide-semiconductor field effect transistors (MOSFETs) medical applications in radiotherapy and radiology are gaining popularity, evaluating them under radiation of different energies is of major interest. This study aims at a characterization of MOSFET sensitivity with regard to total integrated dose. Sensitivity is expressed by the water calibration factor (CFw) and allows the user to associate the voltage difference reading displayed by the device to a dose value in water at the MOSFET location. The CFw of seven p-type dual-bias MOSFETs were measured for several accumulated doses. The radiation sources used were a 60Co unit ((E)gamma: 1.25 MeV), an 192Ir high dose rate unit ((E)gamma: 380 keV), and an orthovoltage unit providing two x-ray energy spectra for tube voltages of 30 kV((E)gamma:14.8 KeV) and 150 kV((E)gamma:70.1 keV). The CFw value diminishes with increasing threshold voltage, especially for low-energy radiation. It was stable for 60Co irradiations, while it decreased 6%, 5%, and 15% for beam energies of 192Ir, 150 kV, and 30 kV, respectively. The decrease rate is higher for the first half of the device lifetime. This behavior is explained by an alteration of the effective electric field applied to the MOSFET during irradiation, caused by the accumulation of holes at the Si-SiO2 interface. It is strongly dependent on the nature of the radiation, and particularly affects low x-ray energies. A frequent calibration of the device for this radiation type is essential in order to achieve adequate measurement accuracy, especially in low-energy applications, such as superficial therapy, brachytherapy, and diagnostic and interventional radiology.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Simulation ou modélisation · Signal consensuel: aucune
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,862
Score d'incertitude au seuil0,358

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,005
Tête enseignante GPT0,208
Écart entre enseignants0,203 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle