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Enregistrement W2073994268 · doi:10.1116/1.2837909

Field emission from lanthanum monosulfide thin films grown on the (100) magnesium oxide substrates

2008· article· en· W2073994268 sur OpenAlex
Steven B. Fairchild, M. Cahay, L. Grazulis, K. Garre, Xin Wu, D. J. Lockwood, V. Semet, Vu Thien Binh

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.

Notice bibliographique

RevueJournal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena · 2008
Typearticle
Langueen
DomaineMaterials Science
ThématiqueElectronic and Structural Properties of Oxides
Établissements canadiensInstitute for Microstructural Sciences
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésThin filmMaterials scienceField electron emissionAnalytical Chemistry (journal)Nanocrystalline materialMagnesiumLanthanumTransmission electron microscopyField emission microscopySubstrate (aquarium)Lanthanum oxideSurface roughnessOxideDiffractionNanotechnologyMetallurgyOpticsComposite materialInorganic chemistryChemistryElectron

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Lanthanum monosulfide (LaS) films were grown by pulsed laser deposition on the (100) magnesium oxide (MgO) substrates at an elevated substrate temperature and in a background gas of H2S. The thin films have been characterized by x-ray diffraction (XRD), atomic force microscopy (AFM), and high resolution transmission electron microscopy. The film surface is composed of grainlike features with an average size of approximately 34nm. The root-mean-square variation of the film surface roughness measured over a 2×2μm2 area by AFM was found to be approximately 1.5nm. XRD data indicate that the average size of the nanocrystalline grains in the film is about 26nm, which is about twice the size of the grains found in LaS thin films deposited at room temperature on Si. The field emission (FE) properties of the films have been characterized by scanning anode field emission microscopy and are interpreted in terms of a recently developed patchwork FE model. The FE data indicate that there is roughly a seven times increase in emission area due to the (100) patch areas outcropping the surface for LaS∕MgO compared to LaS∕Si thin films.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,022
Score d'incertitude au seuil0,913

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,001
Études des sciences et des technologies0,0010,001
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0000,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,022
Tête enseignante GPT0,222
Écart entre enseignants0,199 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle