Low-frequency noise in SiGeC-based pMOSFETs
Notice bibliographique
Résumé
The SiGeC ternary alloy seems to be an attractive material system for Si-based device applications, because the incorporation of a small amount of C in the high-mobility SiGe layer offers an additional degree of freedom for tuning the bandgap, band offsets and the lattice strain in group IV heterostructures. In this work, detailed low-frequency noise (LFN) results in SiGeC pMOSFETs are presented. Our experimental results in saturation regime of the SiGe MOSFET show that the noise in SiGeC MOSFETs at gate bias |V<sub>GS</sub>-V<sub>T</sub>|<0.4V can be referred to the gate terminal as a noise voltage S<sub>VG</sub>=V<sub>G</sub><sup>2</sup>, which implies (ΔN) fluctuation with correlated noise in the cap and SiGeC channel currents. Overall, the trend shows that the gate referred noise voltage scales inversely with the gate area, and that the variation of the noise level has log-normal distribution. Therefore, the noise in SiGeC MOSFETs can be expressed as S=S<sub>avg</sub>*exp(t*σ<sub>Np</sub>), where t=±1,...,±3 is a coefficient selected for desired confidence probability of 0.6,...,0.99 respectively, and σ is the standard deviation of the log-normal distribution of the noise level around its average S<sub>avg</sub>, later given by (ΔN-Δμ) fluctuation in the cap layer and SiGeC channel of pMOSFET.
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Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,000 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,000 | 0,000 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,001 |
| Science ouverte | 0,001 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,000 | 0,000 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,000 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
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score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découleClassification
machine, non validéePrédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.
Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».