A Design-Oriented Soft Error Rate Variation Model Accounting for Both Die-to-Die and Within-Die Variations in Submicrometer CMOS SRAM Cells
Notice bibliographique
Résumé
Submicrometer static random access memory cells are more susceptible to particle strike soft errors and increased statistical process variations, in advanced nanometer CMOS technologies. In this paper, analytical models for the critical charge variations accounting for both die-to-die and within-die variations are proposed. The derived models are verified and compared to Monte Carlo simulations by using industrial 65-nm CMOS technology. This paper provides new design insights such as the impact of the coupling capacitor, one of the most common soft error mitigation techniques, on the critical charge variability, especially, at lower supply voltages. It demonstrates that two extreme values of this coupling capacitor exist. The first value results in maximum relative variations and the other results in minimum relative variations. Therefore, the circuit designers can utilize these results to design the coupling capacitor to limit the variations under power and performance constraints in early design cycles. The derived analytical models account for the impact of the supply voltage and different particle strike conditions. These results are particularly important for soft error tolerant and variation tolerant designs in submicrometer technologies, especially, for low power operations.
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Comment cette classification a été obtenuedéplier
Prédiction distillée sur la base complète
Imitation des enseignantsNi prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.
Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,001 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,000 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,000 | 0,000 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,000 |
| Science ouverte | 0,000 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,000 | 0,000 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,000 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découleClassification
machine, non validéePrédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.
Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».