Effects of hot-carrier stress on the RF performance of 0.18 μm technology NMOSFETs and circuits
Notice bibliographique
Résumé
The effects of DC hot-carrier stress on DC and RF performance of submicron LDD NMOSFETs are investigated. It is shown that the unity current gain frequency f/sub T/ decreases as the transconductance g/sub m/ and gate-source capacitance C/sub gs/ of the transistor are degraded with stress time. It is observed that the degradation of f/sub T/ versus stress time is faster than that of the g/sub m/ degradation. This was found to be due to the increase of the C/sub gs/ with stress. The threshold voltage V/sub th/ and the output conductance g/sub ds/ increase and the intrinsic voltage gain of the device A/sub /spl nu/,int/ decreases by stress. The effect of hot carrier stress on the noise performance of the device is investigated by calculating the minimum noise figure of the device NF/sub min/ before and after stress, using the calibrated small signal model of the transistors. The results of the hot carrier experiments on single devices are used to analyze the hot carrier effects on the transistor power gain G/sub T/, input matching /spl Gamma//sub in/, noise figure NF and stability factor /spl mu/ of a low noise amplifier made of these NMOSFETs.
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Comment cette classification a été obtenuedéplier
Prédiction distillée sur la base complète
Imitation des enseignantsNi prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.
Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,000 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,000 | 0,000 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,000 |
| Science ouverte | 0,000 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,000 | 0,000 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,000 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découleClassification
machine, non validéePrédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.
Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».