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Enregistrement W2141746897 · doi:10.1002/sia.5286

Predictive modeling and analysis of HfO <sub>2</sub> thin film process based on Bayesian information criterion using PCA‐based neural networks

2013· article· en· W2141746897 sur OpenAlexaff
Young‐Don Ko, Pyung Moon, Chang-Eun Kim, Moon‐Ho Ham, Myong K. Jeong, Alberto Garcia‐Diaz, Jae‐Min Myoung, Ilgu Yun

Notice bibliographique

RevueSurface and Interface Analysis · 2013
Typearticle
Langueen
DomaineMaterials Science
ThématiqueMachine Learning in Materials Science
Établissements canadiensHolland Bloorview Kids Rehabilitation HospitalUniversity of Toronto
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésPrincipal component analysisArtificial neural networkBayesian information criterionMaterials scienceDimensionality reductionMultivariate statisticsComputer scienceArtificial intelligenceBayesian probabilityPattern recognition (psychology)Data miningMachine learning

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Principal component analysis (PCA)‐based neural network (NNet) models of HfO 2 thin films are used to study the process of efficient model selection and develop an improved model by using multivariate functional data such as X‐ray diffraction data (XRD). The accumulation capacitance and the hysteresis index input parameters, both characteristic of HfO 2 dielectric films, were selected for the inclusion in the model by analyzing the process conditions. Standardized XRD were used to analyze the characteristic variations for different process conditions; the responses and the electrical properties were predicted by NNet modeling using crystallinity‐based measurement data. A Bayesian information criterion (BIC) was used to compare the model efficiency and to select an improved model for response prediction. Two conclusions summarize the results of the research documented in this paper: (i) physical or material properties can be predicted by the PCA‐based NNet model using large‐dimension data, and (ii) BIC can be used for the selection and evaluation of predictive models in semiconductor manufacturing processes. Copyright © 2013 John Wiley & Sons, Ltd.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction machine sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,001
Version: metacan-v3-hybrid-931329e0061cStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Simulation ou modélisation · Signal consensuel: Simulation ou modélisation
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: aucune
Score de désaccord entre enseignants0,011
Score d'incertitude au seuil0,023

Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,001
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0010,001
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0010,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,010
Tête enseignante GPT0,260
Écart entre enseignants0,250 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeSimulation ou modélisation
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations4
Publié2013
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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