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Enregistrement W2157472099 · doi:10.1109/dftvs.2004.1347857

Toggle-masking for test-per-scan VLSI circuits

2004· article· en· W2157472099 sur OpenAlex
Nitin Parimi, Xiaoling Sun

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.

Notice bibliographique

Revuenon disponible
Typearticle
Langueen
DomaineComputer Science
ThématiqueVLSI and Analog Circuit Testing
Établissements canadiensUniversity of Alberta
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésTest vectorBenchmark (surveying)Electronic circuitVery-large-scale integrationPower (physics)Computer scienceMasking (illustration)Test compressionAutomatic test pattern generationComputer hardwareElectrical engineeringEmbedded systemEngineeringArtificial intelligence

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

This paper presents a novel toggle-masking technique that eliminates the switching activity in a circuit under test (CUT) during the scan-shifting in a test-per-scan test. Conventional scannable D flip-flops (DFFs) are modified to ensure that CUT inputs remain unchanged until an entire test vector is loaded, significantly reducing the power dissipation in the CUT. Our experiments on ISCAS85/89 benchmark circuits show that the proposed technique offers an average of 47% savings in average power compared to previous work (S. Gerstendorfer and H. Wunderlich, Proc. Int. Test Conf., pp. 77-84, 1999), and an average of 99% savings in average power and 8% savings in peak power with respect to test-per-scan circuits with conventional DFFs.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Autre devis · Signal consensuel: aucune
GenreSignal candidat: Méthodes · Signal consensuel: aucune
Score de désaccord entre enseignants0,972
Score d'incertitude au seuil0,526

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,025
Tête enseignante GPT0,247
Écart entre enseignants0,222 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

En bref

Citations8
Publié2004
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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