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Enregistrement W2534483043 · doi:10.1109/icm.2009.5418615

Soft error injection using advanced switch-level models for combinational logic in nanometer technologies

2009· article· en· W2534483043 sur OpenAlexaff
Prabhleen K. Kalkat, Reza Sedaghat, Jalal Mohammad Chikhe, Reza Javaheri

Notice bibliographique

Revuenon disponible
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueRadiation Effects in Electronics
Établissements canadiensToronto Metropolitan University
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésSoft errorCombinational logicComputer scienceElectronic circuitLogic gateElectronic engineeringNode (physics)Digital electronicsTransistorPass transistor logicTransient (computer programming)Sequential logicLogic simulationVoltageLogic levelCMOSElectrical engineeringEngineering

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Due to technology scaling, modern digital systems are becoming more prone to single-event transients (SETs) caused by radiation strikes in CMOS logic devices. This has led to the need for better soft error detection methods in order to increase the reliability of logic circuits in nanometer technologies. Present day soft error detection techniques assume that soft errors occur due to voltage pulses which change the logic state of a transistor node. A novel soft error detection concept is used, assuming that voltage fluctuations smaller than logic threshold can eventually result in soft errors. Advanced switch-level models were designed which mimic important characteristics of transistor-level circuits like bidirectional signal flow, driving strength variations and node capacitances and use verilog driving strengths to model different voltage values. The resulting switch-level models eliminate the complexity associated with state-of-art transistor level simulators while achieving desired amount of accuracy and faster simulation. The aim of this paper is to interpret various parameters used in these strength-based switch models in order to find an efficient way of injecting transients into complex logic circuits. The approach has been evaluated experimentally by creating a simulation environment which allows transient injection at internal nodes of switch-level circuits and injecting a wide range of input test vectors to ISCAS'85 benchmarks. The simulation results show that transient injection at drains of switch-level circuits gives better results in terms of accuracy and prevents over-estimation of soft error rate calculations as compared to injection at gates of transistors.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction machine sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,001
Version: metacan-v3-hybrid-931329e0061cStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Simulation ou modélisation · Signal consensuel: Simulation ou modélisation
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: aucune
Score de désaccord entre enseignants0,003
Score d'incertitude au seuil0,006

Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,001
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,001
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0010,001
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0010,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0020,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,034
Tête enseignante GPT0,271
Écart entre enseignants0,237 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeSimulation ou modélisation
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations6
Publié2009
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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