Depth profiling cross‐linked poly(methyl methacrylate) films: a time‐of‐flight secondary ion mass spectrometry approach
Pourquoi ce travail est dans la base
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Notice bibliographique
Résumé
Rationale In order to determine the degree of cross‐linking on the surface and its variations in a nanometer‐scale depth of organic materials, we developed an approach based on time‐of‐flight secondary ion mass spectrometry (TOF‐SIMS), which provides rich chemical information in the form of fragment ions. TOF‐SIMS is extremely surface‐sensitive and capable of depth profiling with the use of a sputter ion beam to remove controllable amounts of substance. Methods Poly(methyl methacrylate) (PMMA) films spin‐coated on a Si substrate were cross‐linked using a recently developed, surface sensitive, hyperthermal hydrogen projectile bombardment technique. The ion intensity ratio between two ubiquitous hydrocarbon ions, C 6 H – and C 4 H – , detected in TOF‐SIMS, denoted as ρ, was used to assess the degree of cross‐linking of the PMMA films. The cross‐linking depth of the PMMA films was revealed by depth profiling ρ into the polymer films using a C 60 + sputter beam. Results The control PMMA film spin‐coated on a Si substrate was characterized by ρ = 32% on its surface when using a 25 keV Bi 3 + primary ion beam. This parameter on the PMMA films subjected to HHIC treatment for 10, 100 and 500 s increased to 45%, 56% and 65%, respectively. The depth profiles of ρ obtained using a 10 keV C 60 + ion beam resembled an exponential decay, from which the cross‐linking depth was estimated to be 3, 15 and 39 nm, respectively, for the three cross‐linked PMMA films. Conclusions We demonstrated that the ion intensity ratio of C 6 H – to C 4 H – detected in TOF‐SIMS provides a unique and simple means to assess the degree of cross‐linking of the surface of PMMA films cross‐linked by the surface sensitive hyperthermal hydrogen projectile bombardment technique. With a C 60 + sputter beam, we were able to depth profile the PMMA films and determine cross‐linking depths of the cross‐linked polymer films at nanometer resolutions. Copyright © 2017 John Wiley & Sons, Ltd.
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Prédiction distillée sur la base complète
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Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,001 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,001 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,002 | 0,003 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,001 |
| Science ouverte | 0,002 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,000 | 0,001 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,001 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
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score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle