Far Back End of Line Aluminum Stress Reduction Methods for Two-Dimensional/2.5D Fine Pitch Assemblies
Pourquoi ce travail est dans la base
Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.
Notice bibliographique
Résumé
Fine pitch interconnects when used with two-dimensional (2D)/2.5D packaging technology offer enormous potential toward decreasing signal latency and by making it possible to package increased electrical functionality within a given area. However, fine pitch interconnects present their own set of challenges not seen in packages with coarse pitch interconnects. Increased level of stresses within the far back end of line (FBEOL) layers of the chip is the primary concern. Seven different types of 2D and 2.5D test vehicles with fine pitch and coarse pitch interconnects were built and tested for mechanical integrity by subjecting them to accelerated thermal cycling between −55 °C and 125 °C. Finite element based mechanical modeling was done to determine the stress level within the FBEOL layers of these test vehicles. For all the tested assemblies, experimental data and modeling results showed a strong correlation between reduced pitch and increased level of stresses and increased incidence of failures within the FBEOL region. These failures were observed exclusively at the passivation layer and aluminum pad interface. Experimental data in conjunction with mechanical modeling were used to determine a safe level of stress at the aluminum to passivation layer interface. Global and local design changes were explored to determine their effect on the stresses at this interface. Several guidelines have been provided to reduce these stresses for a 2D/2.5D package assembly with fine pitch interconnects. Finally, a reliable low stress configuration, which takes into account all the design changes, has been proposed, which is expected to be robust with very low risk of failure within the FBEOL region.
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Prédiction distillée sur la base complète
Imitation des enseignantsNi prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.
Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,001 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,000 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,000 | 0,000 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,000 |
| Science ouverte | 0,000 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,000 | 0,000 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,000 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle