Decoupling recombination mechanisms and trap state localization in direct bandgap semiconductors using photoluminescence decay
Pourquoi ce travail est dans la base
Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.
Notice bibliographique
Résumé
In this work, we show that extraction of the true bulk lifetime from the biexponential decay that follows from low initial carrier density photoluminescence decay experiments is not generally possible, and introduce new models to enable extraction of the bulk lifetime in the case where the initial carrier density exceeds the doping level. From measurements with high initial carrier density, we establish quasi-equilibrium between localized and free carrier states and accurately measure the bulk lifetime. Using our new models, we measure the time constants associated with localization processes as well as nonradiative and radiative bulk recombination in our GaAs double heterostructures grown with molecular beam epitaxy from experiments with varied excitation strength providing initial carrier densities that range from around 1014 to 1017 cm–3. We demonstrate that this approach can be applied to lightly doped (1016 cm–3) materials where the strongest excitation yields initial carrier densities that exceed the doping level. In our n-type sample, we report lifetime values of (22.7 ± 0.1) ns for bulk recombination, (73 ± 1) ns for trap-capture, (51 ± 2) ns for trap-emission, and (63 ± 2) ns for trap-decay, with a low-level injection effective radiative efficiency of (27.5 ± 0.7)%. In our p-type sample, we report lifetime values of (78.9 ± 0.3) ns for bulk recombination, (77.5 ± 0.7) ns for trap-capture, (530 ± 10) ns for trap-emission, and (177 ± 4) ns for trap-decay, with a low-level injection effective radiative efficiency of (47.0 ± 0.8)%. In comparison with the long and short lifetimes extracted from the biexponential decay with weak excitation, the mean bulk lifetime measured with strong excitation was (33 ± 2)% and (53 ± 1)% longer than the short lifetime, and (68 ± 4)% and (103 ± 3)% shorter than the long lifetime in our n-type and p-type samples, respectively. In our n-type sample, the extracted low-level injection nonradiative lifetime was (33 ± 1) ns, and it was observed to remain constant with the injection level. In our p-type sample, the high-level injection nonradiative lifetime was measured to be (30 ± 30)% larger than the low-level injection nonradiative lifetime of (140 ± 2) ns.
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Prédiction distillée sur la base complète
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Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,000 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,000 | 0,000 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,000 |
| Science ouverte | 0,000 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,000 | 0,000 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,000 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
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score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle