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Enregistrement W2791554588 · doi:10.1111/jmi.12683

Spin‐coated epoxy resin embedding technique enables facile SEM/FIB thickness determination of porous metal oxide ultra‐thin films

2018· article· en· W2791554588 sur OpenAlex
Bruno Peña, Gethin Owen, Kevan E. Dettelbach, Curtis P. Berlinguette

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.
fundUn bailleur canadien est enregistré sur le travail.

Notice bibliographique

RevueJournal of Microscopy · 2018
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueSemiconductor materials and devices
Établissements canadiensUniversity of British Columbia
Organismes subventionnairesNatural Sciences and Engineering Research Council of CanadaUniversity of British ColumbiaCanada Research ChairsCanadian Institute for Advanced Research
Mots-clésMaterials scienceEpoxyPorosityOxideMetalChemical engineeringThin filmComposite materialNanotechnologyMetallurgy

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

A facile nonsubjective method was designed to measure porous nonconductive iron oxide film thickness using a combination of a focused ion beam (FIB) and scanning electron microscopy. Iron oxide films are inherently nonconductive and porous, therefore the objective of this investigation was to optimize a methodology that would increase the conductivity of the film to facilitate high resolution imaging with a scanning electron microscopy and to preserve the porous nature of the film that could potentially be damaged by the energy of the FIB. Sputter coating the sample with a thin layer of iridium before creating the cross section with the FIB decreased sample charging and drifting, but differentiating the iron layer from the iridium coating with backscattered electron imaging was not definitive, making accurate assumptions of the delineation between the two metals difficult. Moreover, the porous nature of the film was lost due to beam damage following the FIB process. A thin layer plastication technique was therefore used to embed the porous film in epoxy resin that would provide support for the film during the FIB process. However, the thickness of the resin created using conventional thin layer plastication processing varied across the sample, making the measuring process only possible in areas where the resin layer was at its thinnest. Such variation required navigating the area for ideal milling areas, which increased the subjectivity of the process. We present a method to create uniform thin resin layers, of controlled thickness, that are ideal for quantifying the thickness of porous nonconductive films with FIB/scanning electron microscopy.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,027
Score d'incertitude au seuil0,704

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,013
Tête enseignante GPT0,279
Écart entre enseignants0,266 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle