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Enregistrement W2893059167 · doi:10.1109/tdmr.2018.2872562

Probing Plasticity and Strain-Rate Effects of Indium Submicron Pillars Using Synchrotron Laue X-Ray Microdiffraction

2018· article· en· W2893059167 sur OpenAlex

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

fundUn bailleur canadien est enregistré sur le travail.
no affAucune affiliation canadienne : ce travail est invisible pour une base fondée sur la seule affiliation.
Aucune affiliation canadienne. Une base fondée sur la seule affiliation (le devis habituel) n'aurait jamais vu ce travail. C'est l'un des travaux qui justifient l'inversion de la base.

Notice bibliographique

RevueIEEE Transactions on Device and Materials Reliability · 2018
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueElectronic Packaging and Soldering Technologies
Établissements canadiensnon disponible
Organismes subventionnairesLos Alamos National LaboratoryLawrence Berkeley National LaboratoryBasic Energy SciencesOffice of ScienceHarvard UniversityKorea Advanced Institute of Science and TechnologySingapore University of Technology and DesignUniversity of WaterlooU.S. Department of Energy
Mots-clésMaterials scienceSynchrotronIndiumX-ray crystallographyX-rayPlasticitySynchrotron radiationStrain (injury)Strain rateOpticsComposite materialOptoelectronicsCrystallographyDiffractionPhysicsChemistry

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Mechanical behaviors and especially the strain-rate responses at the nanoscales of low melting temperature metals, such as indium, have not been studied much. Indium is one of the key materials or alloy components in advanced microelectronics and the nanotechnology industry, and understanding their mechanical behaviors at nanoscales becomes increasingly important to ensure lifetime reliability of their applications in novel nanoscale devices or advanced systems (for packaging at the nanoscales, for instance). Synchrotron X-ray microdiffraction has been utilized to examine defect structures of nanoscale materials as well as their strain-rate responses. Nanoscale or advanced microelectronics packaging, for instance, require acceptable levels of drop test results. For these low melting temperature materials especially, this technique offers a unique advantage as conventional methods such as transmission electron microscope and EBSD will expose the structure to high-energy electron beams that may significantly alter the microstructure and defect structure during analysis. Using this approach, we found interesting differences in term of X-ray peak broadening after deformation with different strain rates, which could indicate differences in plasticity mechanisms in the submicron pillars of indium, which could be important for their applications in nanodevices. Understanding these differences could lead to better control of mechanical properties of low melting temperature metals at the nanoscales and, thus, have important implications for nanodevice reliability.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,073
Score d'incertitude au seuil0,774

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,008
Tête enseignante GPT0,220
Écart entre enseignants0,211 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle