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Enregistrement W2992503855 · doi:10.5539/apr.v11n6p1

Reliability Scaling of Nanoscale Avalanche Photodiodes in High-Speed Optical Communication

2019· article· en· W2992503855 sur OpenAlex
Jack Jia‐Sheng Huang, H.-S. Chang, Yu‐Heng Jan

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

venuePublié dans une revue dont le pays d'attache est le Canada.
no affAucune affiliation canadienne : ce travail est invisible pour une base fondée sur la seule affiliation.
Aucune affiliation canadienne. Une base fondée sur la seule affiliation (le devis habituel) n'aurait jamais vu ce travail. C'est l'un des travaux qui justifient l'inversion de la base.

Notice bibliographique

RevueApplied Physics Research · 2019
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueIntegrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
Établissements canadiensnon disponible
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésAvalanche photodiodeAPDSMiniaturizationMicroelectronicsReliability (semiconductor)PhotonicsAvalanche diodePhotodiodeOptoelectronicsScalingAvalanche breakdownComputer scienceMaterials scienceBreakdown voltageElectrical engineeringNanotechnologyTelecommunicationsPhysicsDetectorEngineeringVoltagePower (physics)

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

In the present era of big data and 5G wireless, both microelectronic and photonic components are indispensable building blocks. For microelectronics, device miniaturization has been following Moore’s law to attain higher speed and greater functionality. For photonics, similar device scaling is also evolving in both lasers and photodiodes to transmit high data rates of 25 Gb/s and beyond. However, such device miniaturization may impose challenges such as reliability and fabrication that require careful scientific and engineering studies. In particular, the reliability understanding of photonic device scaling is fairly rudimentary with only scattered reports. In this paper, we study the device and reliability scaling of nanoscale avalanche photodiodes (APDs). The device miniaturization of APDs mainly involves thickness reduction in the charge control and multiplication layers. The layer reduction however causes an increase in breakdown field that may adversely affect reliability in several aspects such as electrical/optical overload and electrostatic discharge (ESD). We present a new reliability degradation model of APDs based on the breakdown field and correlate it with the experimental data. Empirical reliability equations are instituted to establish quantitative formulation. We discuss the overload and ESD performances as a function of breakdown field for both planar-type and mesa-type APD structures.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,036
Score d'incertitude au seuil0,432

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,001
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,026
Tête enseignante GPT0,281
Écart entre enseignants0,255 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle