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Enregistrement W3007787734 · doi:10.3762/bjnano.11.119

Atomic defect classification of the H–Si(100) surface through multi-mode scanning probe microscopy

2020· article· en· W3007787734 sur OpenAlex
Jeremiah Croshaw, Thomas Dienel, Taleana Huff, Robert A. Wolkow

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.
fundUn bailleur canadien est enregistré sur le travail.

Notice bibliographique

RevueBeilstein Journal of Nanotechnology · 2020
Typearticle
Langueen
DomainePhysics and Astronomy
ThématiqueForce Microscopy Techniques and Applications
Établissements canadiensNational Research Council CanadaNational Institute for NanotechnologyUniversity of Alberta
Organismes subventionnairesNatural Sciences and Engineering Research Council of CanadaAlberta Innovates - Technology FuturesMinistry of Education, IndiaNational Science Foundation
Mots-clésScanning tunneling microscopeMaterials scienceSiliconAtomic unitsFabricationNanotechnologySurface reconstructionAtomic force microscopyDesorptionHydrogenScanning probe microscopyScanning capacitance microscopyMicroscopyAtom (system on chip)Surface (topology)OptoelectronicsAdsorptionScanning electron microscopeOpticsChemistryScanning confocal electron microscopyComputer scienceComposite materialPhysicsPhysical chemistry

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

The combination of scanning tunnelling microscopy (STM) and non-contact atomic force microscopy (nc-AFM) allows enhanced extraction and correlation of properties not readily available via a single imaging mode. We demonstrate this through the characterization and classification of several commonly found defects of the hydrogen-terminated silicon (100)-2 × 1 surface (H-Si(100)-2 × 1) by using six unique imaging modes. The H-Si surface was chosen as it provides a promising platform for the development of atom scale devices, with recent work showing their creation through precise desorption or placement of surface hydrogen atoms. While samples with relatively large areas of the H-Si surface are routinely created using an in situ methodology, surface defects are inevitably formed reducing the area available for patterning. By probing the surface using the different interactivity afforded by either hydrogen- or silicon-terminated tips, we are able to extract new insights regarding the atomic and electronic structure of these defects. This allows for the confirmation of literature assignments of several commonly found defects, as well as proposed classifications of previously unreported and unassigned defects. By combining insights from multiple imaging modes, better understanding of their successes and shortcomings in identifying defect structures and origins is achieved. With this, we take the first steps toward enabling the creation of superior H-Si surfaces through an improved understanding of surface defects, ultimately leading to more consistent and reliable fabrication of atom scale devices.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,176
Score d'incertitude au seuil0,514

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,027
Tête enseignante GPT0,314
Écart entre enseignants0,287 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle