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Enregistrement W3117171627 · doi:10.31399/asm.cp.istfa2007p0337

Latch-Up Root Cause Analysis for New ASIC Design

2007· article· en· W3117171627 sur OpenAlex
W. Danielak, Wagner Fontes dos Reis Machado, M. Jaffer, Sebastian M. Waldstein, A. Jordan, Manoj Sachdev, D. Li

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.

Notice bibliographique

RevueProceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis · 2007
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueIntegrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
Établissements canadiensUniversity of Waterloo
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésInterconnectionApplication-specific integrated circuitRoot causeTransistorWaferStress (linguistics)Guard (computer science)Computer scienceElectronic engineeringMaterials scienceElectrical engineeringOptoelectronicsEngineeringVoltageReliability engineeringTelecommunications

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Abstract The analyzed new Application Specific Integrated Circuit (ASIC) design failed latch-up test on two input pins during current stress. In order to determine the root cause, the Failure Analysis (FA) with use of backside Emission Microscopy (EMMI) was performed. The EMMI results were followed by detailed layout and circuit analysis. It was found that the root cause of the latch-up is an abutment of two specific cells (called “cell C” and “cell D”), where the N-well was grounded creating a parasitic NPN transistor sustaining the latch-up. A detailed calculation of parasitic interconnection resistances from the layout revealed some differences between latching and non-latching pins. The analytical model to explain the latch-up behavior based on parasitic resistances was applied successfully to root cause analysis. Summarizing, the latch–up behavior can be explained by the abutment of cells C and D, parasitic interconnect resistances and cell location with respect to the substrate bumps. In conclusions the following recommendations were made: 1. Remove the n-well in cell D; 2. Connect specific cells (B and D) to higher supply voltage; 3. Implement p+ guard rings for cells C and D; 4. Optimize placement of ground bumps; 5. Eliminate abutment of cell C and D.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesMéta-épidémiologie (sens strict)
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Simulation ou modélisation · Signal consensuel: aucune
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: aucune
Score de désaccord entre enseignants0,855
Score d'incertitude au seuil1,000

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0010,001
Bibliométrie0,0010,003
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,030
Tête enseignante GPT0,253
Écart entre enseignants0,223 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle