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Enregistrement W3148402416 · doi:10.1109/radecs.2005.4365559

Effects of Total Dose Irradiation on Single-Event Upset Hardness

2005· article· en· W3148402416 sur OpenAlexaff
J.R. Schwank, M.R. Shaneyfelt, J. Félix, P.E. Dodd, V. Ferlet-Cavrois, P. Paillet, J. Baggio, G.L. Hash, Richard S. Flores, L. W. Massengill, E. W. Blackmore

Notice bibliographique

RevueESA SP · 2005
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueRadiation Effects in Electronics
Établissements canadiensTRIUMF
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésRadiation hardeningUpsetIrradiationStatic random-access memorySingle event upsetRadiationVoltageLeakage (economics)Materials scienceOptoelectronicsPhysicsElectrical engineeringNuclear physicsEngineering

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

The effect of total dose on SEU hardness is investigated as a function of temperature and power supply voltage to determine worst case hardness assurance test conditions for space environments. SRAMs from six different vendors were characterized for single-event upset (SEU) hardness at proton energies from 20 to 500 MeV and at temperatures of 25 and 80degC after total dose irradiating the SRAMs with either protons, Co-60 gamma rays, or low-energy x-rays. It is shown that total dose irradiation and the bias configuration during total dose irradiation and SEU characterization can substantially affect SEU hardness for some SRAMs. For one SRAM, the bias configuration made more than two orders of magnitude difference in SEU cross section at the highest total dose level examined. In addition, it is shown that increasing the temperature during SEU characterization can also increase the effect of total dose on SEU hardness. As a result, worst-case SEU hardness assurance test conditions are the maximum total dose and temperature of the system environment, and the minimum operating voltage of the SRAM. In contrast to previous works, our results using selective area x-ray irradiations show that the source of the effect of total dose on SEU hardness is radiation-induced leakage currents in the memory cells. The increase in SEU cross section with total dose appears to be consistent with radiation-induced currents originating in the memory cells affecting the output bias levels of bias level shift circuitry used to control the voltage levels to the memory cells and/or due to the lowering of the noise margin of individual memory cells caused by radiation-induced leakage currents.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction machine sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,001
Version: metacan-v3-hybrid-931329e0061cStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,002
Score d'incertitude au seuil0,007

Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,001
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,001
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0020,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,003
Tête enseignante GPT0,197
Écart entre enseignants0,194 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeExpérimental (laboratoire)
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations4
Publié2005
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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