(Invited) Photoluminescence Monitored Digital Photocorrosion of GaAs/AlGaAs Nanoheterostructures
Notice bibliographique
Résumé
Conventional etching techniques do not have the ability to achieve precision of monolayer etching of crystalline solid materials. In recent years, atomic layer etching (ALE) has emerged as a method addressing this challenge based on the application of self-limiting sequential reactions. Nevertheless, monitoring of the ALE process, important for real time information about the location of the etching front, is not trivial and could be an expensive task. We have investigated the innovative process of digital photocorrosion (DIP) of GaAs/AlGaAs nanoheterostructures, which is based on photoexcitation driven decomposition of these materials.1 The process is carried out in a flow cell filled with etchants designed for selective removal of the photocorrosion products. For instance, water dilutes relatively easily As and most of the Ga oxides, but dilution of Ga2O3 or Al oxides and hydroxides requires dedicated etchants. Under optimized conditions, DIP allows etching of (001) GaAs/AlGaAs nanoheterostructures with average rates approaching 1 Å/cycle. The process could be monitored in situ by measuring, e.g., open circuit potential2 or photoluminescence3 effect. The sensitivity of these effects to the surface states of a semiconductor allows for convenient marking of the location of a GaAs/AlGaAs interface when crossed by the etching front. In this presentation, I will discuss mechanisms of DIP of GaAs/AlGaAs nanoheterostructures and the conditions for formation of stoichiometric surfaces. Examples of the DIP process applied for formation of an unusual density alkanethiol self-assembled monolayers and operation of optical devices for detecting electrically charged molecules immobilized in the vicinity of a semiconductor-electrolyte interface will also be discussed. Finally, I will also address the potential of this economically attractive invention for the research of other semiconductor materials. __________________ 1. S. Aithal, N. Liu and J. J. Dubowski, Journal of Physics D: Applied Physics 50 (3), 035106 (2017). 2. S. Aithal and J. J. Dubowski, Appl Phys Lett 112 (15), 153102 (2018). 3. M. R. Aziziyan, H. Sharma and J. J. Dubowski, Acs Appl Mater Inter 11 (19), 17968-17978 (2019).
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Comment cette classification a été obtenuedéplier
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Imitation des enseignantsNi prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.
Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,000 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,000 | 0,000 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,000 |
| Science ouverte | 0,000 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,000 | 0,000 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,000 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découleClassification
machine, non validéePrédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.
Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».