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Enregistrement W4321239522 · doi:10.1002/qre.3287

Robust inference for nondestructive one‐shot device testing under step‐stress model with exponential lifetimes

2023· article· en· W4321239522 sur OpenAlex

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.
fundUn bailleur canadien est enregistré sur le travail.

Notice bibliographique

RevueQuality and Reliability Engineering International · 2023
Typearticle
Langueen
DomaineMathematics
ThématiqueStatistical Distribution Estimation and Applications
Établissements canadiensMcMaster University
Organismes subventionnairesNatural Sciences and Engineering Research Council of CanadaMinisterio de Educación, Cultura y DeporteMinisterio de Ciencia, Innovación y Universidades
Mots-clésAccelerated life testingCensoring (clinical trials)QuantileEstimatorExponential distributionStatisticsRobustness (evolution)InferenceReliability (semiconductor)Statistical inferenceComputer scienceStatistical hypothesis testingStress (linguistics)Exponential functionReliability engineeringMathematicsWeibull distributionEngineeringPower (physics)Artificial intelligence

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Abstract One‐shot devices analysis involves an extreme case of interval censoring, wherein one can only know whether the failure time is either before or after the test time. Some kind of one‐shot devices do not get destroyed when tested, and so can continue within the experiment, providing extra information for inference, if they did not fail before an inspection time. In addition, their reliability can be rapidly estimated via accelerated life tests (ALTs) by running the tests at varying and higher stress levels than working conditions. In particular, step‐stress tests allow the experimenter to increase the stress levels at prefixed times gradually during the life‐testing experiment. The cumulative exposure model is commonly assumed for step‐stress models, relating the lifetime distribution of units at one stress level to the lifetime distributions at preceding stress levels. In this paper, we develop robust estimators and Z‐type test statistics based on the density power divergence (DPD) for testing linear null hypothesis for nondestructive one‐shot devices under the step‐stress ALTs with exponential lifetime distribution. We study asymptotic and robustness properties of the estimators and test statistics, yielding point estimation and confidence intervals for different lifetime characteristic such as reliability, distribution quantiles, and mean lifetime of the devices. A simulation study is carried out to assess the performance of the methods of inference developed here and some real‐life data sets are analyzed finally for illustrative purpose.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,003
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Simulation ou modélisation · Signal consensuel: aucune
GenreSignal candidat: Méthodes · Signal consensuel: aucune
Score de désaccord entre enseignants0,659
Score d'incertitude au seuil0,486

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,003
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,281
Tête enseignante GPT0,408
Écart entre enseignants0,127 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle