Simultaneous secondary electron microscopy in the scanning transmission electron microscope with applications for <i>in situ</i> studies
Pourquoi ce travail est dans la base
Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.
Notice bibliographique
Résumé
Scanning/transmission electron microscopy (STEM) is a powerful characterization tool for a wide range of materials. Over the years, STEMs have been extensively used for in situ studies of structural evolution and dynamic processes. A limited number of STEM instruments are equipped with a secondary electron (SE) detector in addition to the conventional transmitted electron detectors, i.e. the bright-field (BF) and annular dark-field (ADF) detectors. Such instruments are capable of simultaneous BF-STEM, ADF-STEM and SE-STEM imaging. These methods can reveal the 'bulk' information from BF and ADF signals and the surface information from SE signals for materials <200 nm thick. This review first summarizes the field of in situ STEM research, followed by the generation of SE signals, SE-STEM instrumentation and applications of SE-STEM analysis. Combining with various in situ heating, gas reaction and mechanical testing stages based on microelectromechanical systems (MEMS), we show that simultaneous SE-STEM imaging has found applications in studying the dynamics and transient phenomena of surface reconstructions, exsolution of catalysts, lunar and planetary materials and mechanical properties of 2D thin films. Finally, we provide an outlook on the potential advancements in SE-STEM from the perspective of sample-related factors, instrument-related factors and data acquisition and processing.
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Prédiction distillée sur la base complète
Imitation des enseignantsNi prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.
Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,000 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,000 | 0,001 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,000 |
| Science ouverte | 0,000 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,000 | 0,000 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,000 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle