High-speed CMOS compatible plasmonic modulator for non-contact wafer-level testing
Notice bibliographique
Résumé
Wafer-level testing is an important step for process and quality control of electronic chips in integrated circuit (IC) manufacturing which occurs before packaging. The process of wafer probing in its conventional contacting schemes, becomes more complicated as ICs move to smaller technology nodes and more compact designs, greatly increasing testing costs. Non-contact optical wafer probing can overcome physical probing complications, reducing costs, and increasing throughput and reliability. In this paper, a CMOS compatible, broadband (22 GHz), small footprint (5 μm dia.) plasmonic electro-optic modulator of low insertion loss (4 dB) and wide optical working bandwidth (100 nm) is proposed and demonstrated as a potential solution for wafer-level optical testing. The device modulates in reflection an incident optical carrier emerging from an optical fiber in a non-contact arrangement, to work as a data output channel from the wafer. A modulation depth of over 2% is achieved which should be sufficient to meet the requirements of wafer-level testing. The device can be placed anywhere on wafer.
Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.
Comment cette classification a été obtenuedéplier
Prédiction distillée sur la base complète
Imitation des enseignantsNi prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.
Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,001 | 0,001 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,001 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,001 | 0,001 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,000 |
| Science ouverte | 0,001 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,001 | 0,001 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,000 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découleClassification
machine, non validéePrédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.
Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».