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Enregistrement W4401741377 · doi:10.1016/j.ultramic.2024.114034

The impact of electric field strength on the accuracy of boron dopant quantification in silicon using atom probe tomography

2024· article· en· W4401741377 sur OpenAlex

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.
fundUn bailleur canadien est enregistré sur le travail.

Notice bibliographique

RevueUltramicroscopy · 2024
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueAdvanced Materials Characterization Techniques
Établissements canadiensMcMaster University
Organismes subventionnairesNatural Sciences and Engineering Research Council of CanadaCanada Foundation for InnovationMcMaster University
Mots-clésAtom probeBoronSiliconDopantElectric fieldMaterials scienceAtom (system on chip)TomographyField (mathematics)Molecular physicsAtomic physicsDopingChemistryOptoelectronicsPhysicsNanotechnologyOpticsNuclear physicsComputer scienceMathematics

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

) was used as an indirect measure of the average apex electric field during analysis. For a range of electric fields, the accuracy of the total implanted dose and the depth profile shape determined by APT was evaluated against the National Institute of Standards and Technology Standard Reference Material 2137. The radial (non-)uniformity of the detected B was also examined. At a higher surface electric field (i.e., a greater CSR(Si)), the determined B dose converges on the certified dose. Additionally, the depth profile shape tends towards that derived by secondary ion mass spectrometry. This improvement coincides with a more uniform radial B distribution, evidenced by desorption maps. In contrast, for lower surface electric fields (i.e., a lower CSR(Si)), the B dose is significantly underestimated, and the depth profile is artificially stretched. The desorption maps also indicate a highly inhomogeneous B emission localized around the center of the detector, which is believed to be an artifact of B surface migration on the tip of the sample. For the purposes of routine investigations of semiconductor devices using APT, these results illustrate the potential origin of quantification artifacts and their severity at different operating conditions, thus providing pathways towards best practices for accurate and repeatable measurements.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,010
Score d'incertitude au seuil0,300

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,012
Tête enseignante GPT0,300
Écart entre enseignants0,288 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle