MétaCan
Menu
Retour à la cohorte
Enregistrement W4401741377 · doi:10.1016/j.ultramic.2024.114034

The impact of electric field strength on the accuracy of boron dopant quantification in silicon using atom probe tomography

2024· article· en· W4401741377 sur OpenAlexafffund
Bavley Guerguis, Ramya Cuduvally, R. J. H. Morris, Gabriel Arcuri, Brian Langelier, Nabil Bassim

Notice bibliographique

RevueUltramicroscopy · 2024
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueAdvanced Materials Characterization Techniques
Établissements canadiensMcMaster University
Organismes subventionnairesNatural Sciences and Engineering Research Council of CanadaCanada Foundation for InnovationMcMaster University
Mots-clésAtom probeBoronSiliconDopantElectric fieldMaterials scienceAtom (system on chip)TomographyField (mathematics)Molecular physicsAtomic physicsDopingChemistryOptoelectronicsPhysicsNanotechnologyOpticsNuclear physicsComputer scienceMathematics

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

) was used as an indirect measure of the average apex electric field during analysis. For a range of electric fields, the accuracy of the total implanted dose and the depth profile shape determined by APT was evaluated against the National Institute of Standards and Technology Standard Reference Material 2137. The radial (non-)uniformity of the detected B was also examined. At a higher surface electric field (i.e., a greater CSR(Si)), the determined B dose converges on the certified dose. Additionally, the depth profile shape tends towards that derived by secondary ion mass spectrometry. This improvement coincides with a more uniform radial B distribution, evidenced by desorption maps. In contrast, for lower surface electric fields (i.e., a lower CSR(Si)), the B dose is significantly underestimated, and the depth profile is artificially stretched. The desorption maps also indicate a highly inhomogeneous B emission localized around the center of the detector, which is believed to be an artifact of B surface migration on the tip of the sample. For the purposes of routine investigations of semiconductor devices using APT, these results illustrate the potential origin of quantification artifacts and their severity at different operating conditions, thus providing pathways towards best practices for accurate and repeatable measurements.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction machine sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,002
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,004
Version: metacan-v3-hybrid-931329e0061cStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,002
Score d'incertitude au seuil0,010

Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0020,004
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,001
Communication savante0,0010,000
Science ouverte0,0000,001
Intégrité de la recherche0,0010,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0010,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,012
Tête enseignante GPT0,300
Écart entre enseignants0,288 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeExpérimental (laboratoire)
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations6
Publié2024
Routes d'admission2
Résumé présentoui

Explorer davantage

Même revueUltramicroscopyMême sujetAdvanced Materials Characterization TechniquesTravaux en français237 207