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Enregistrement W4403776558 · doi:10.1002/admi.202400580

Ultra‐Thin Strain‐Relieving Si<sub>1−x</sub>Ge<sub>x</sub> Layers Enabling III‐V Epitaxy on Si

2024· article· en· W4403776558 sur OpenAlexafffund
Trevor Robin Smith, Spencer McDermott, V. Patel, Ross Anthony, Sophie E. Bierer, Sunzhuoran Wang, Andrew P. Knights, Ryan B. Lewis

Notice bibliographique

RevueAdvanced Materials Interfaces · 2024
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueSemiconductor materials and devices
Établissements canadiensMcMaster University
Organismes subventionnairesNational Research Council CanadaNatural Sciences and Engineering Research Council of CanadaMcMaster University
Mots-clésMaterials scienceEpitaxyStrain (injury)Molecular beam epitaxyGermaniumCrystallographySiliconOptoelectronicsNanotechnologyLayer (electronics)Chemistry

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Abstract The explosion of artificial intelligence, the possible end of Moore's law, dawn of quantum computing, and the continued exponential growth of data communications traffic have brought new urgency to the need for laser integration on the diversified Si platform. While diode lasers on group III‐V platforms have long‐powered internet data communications and other optoelectronic technologies, direct integration with Si remains problematic. A paradigm‐shifting solution requires exploring new and unconventional materials and integration approaches. In this work, it is shown that a sub‐10‐nm ultra‐thin Si 1−x Ge x buffer layer fabricated by an oxidative solid‐phase epitaxy process can facilitate extraordinarily efficient strain relaxation. The Si 1−x Ge x layer is formed by ion implanting Ge into Si(111) and selectively oxidizing Si atoms in the resulting ion‐damaged layer, precipitating a fully strain‐relaxed Ge‐rich layer between the Si substrate and surface oxide. The efficient strain relaxation results from the high oxidation temperature, producing a periodic network of dislocations at the substrate interface, coinciding with modulations of the Ge content in the Si 1−x Ge x layer and indicating the presence of defect‐mediated diffusion of Si through the layer. The epitaxial growth of high‐quality GaAs is demonstrated on this ultra‐thin Si 1−x Ge x layer, demonstrating a promising new pathway for integrating III‐V lasers directly on the Si platform.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesMéta-épidémiologie (sens strict)
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,016
Score d'incertitude au seuil0,999

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0010,001
Méta-épidémiologie (sens large)0,0010,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0010,001
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,001

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,012
Tête enseignante GPT0,237
Écart entre enseignants0,225 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.

Devis d'étudeExpérimental (laboratoire)
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations1
Publié2024
Routes d'admission2
Résumé présentoui

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