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Enregistrement W4406812281 · doi:10.1109/access.2025.3533965

Study on Single Event Transients in Amplifier for Switched-Capacitor Circuits in CMOS Technology

2025· article· en· W4406812281 sur OpenAlex
Ming Yan, Jaime Cardenas Chavez, Adriana Noguera Cundar, Kamal El‐Sankary, Li Chen

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.
fundUn bailleur canadien est enregistré sur le travail.

Notice bibliographique

RevueIEEE Access · 2025
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueRadiation Effects in Electronics
Établissements canadiensUniversity of SaskatchewanDalhousie University
Organismes subventionnairesNatural Sciences and Engineering Research Council of Canada
Mots-clésSwitched capacitorCMOSCapacitorAmplifierElectronic circuitElectrical engineeringElectronic engineeringComputer scienceOperational amplifierVoltageEngineering

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

This article presents a comprehensive analysis of the sensitivity of different switched-capacitor amplifier circuits to Single Event Transients (SETs). SETs are temporary variations in circuit output voltage or current caused by the interaction of heavy ions or high-energy protons with sensitive device nodes. The study focuses on three types of amplifier circuits commonly used in Multiplying Digital-to-Analog Converter (MDAC) stages of state-of-the-art pipelined ADCs: operational amplifier (Op-Amp) MDACs, comparator-based switched-capacitor (CBSC) MDACs, and ring amplifier (RAMP) based MDACs. By employing a TCAD-calibrated double exponential transient current pulse model, we simulate the SET responses resulting from heavy ion strike experiments on sensitive nodes of each MDAC type. Our analysis and simulations reveal the amplitude and recovery time of the output results for each MDAC type when subjected to SETs. Notably, we propose a novel radiation hardening solution: the parallel-auxiliary ring amplifier (PA-RAMP) structure, which demonstrates significantly better tolerance to SETs compared to other designs. This research not only contributes to the understanding of SET effects on analog switched-capacitor amplifier circuits but also introduces a cost-effective approach to mitigate these effects. As technology nodes scale down and circuits become more susceptible to SETs, the PA-RAMP structure offers a promising solution for radiation-hardened applications, enabling the use of scaling-friendly RAMPs with enhanced tolerance to SETs.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Simulation ou modélisation · Signal consensuel: aucune
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,595
Score d'incertitude au seuil0,645

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0010,001
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,024
Tête enseignante GPT0,318
Écart entre enseignants0,294 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle