An Innovative Approach to Scanning Acoustic Microscopy (SAM) for Layered Structures in Wafer Level Chip Scale Package (WLCSP)
Notice bibliographique
Résumé
This technical paper introduces an innovative approach aimed at overcoming the limitations associated with conventional Scanning Acoustic Microscopy (SAM) techniques in the analysis of Wafer Level Chip Scale Packages (WLCSP). Conventional SAM methods have struggled to fully characterize interfaces within these packages, requiring complex setups with multiple frequency transducers and resulting in limited scanning, especially for Printed-Circuit-Board (PCB) mounted units. A new method to apply 200 MHz UHF (Ultra-High Frequency) transducer for single scanning of multiple layers for both loosen and PCB mounted units are presented in this work. There is currently technique performs a single scan from top to bottom to capture many layers of interfaces in stacked materials. This approach facilitates comprehensive data acquisition across all layers within the WLCSP, especially for PCB mounted. By acquiring information of material factors for specific layers following the properties to derive acoustic impedance, the phase inversion of waveforms can be obtained. Subsequently, step to estimate the gate location is performed on the corresponding interface of interest. Repetitive analysis on SAM and comparative analysis on cross section is carried out to ensure the gate location is positioned accurately between boundary of each material interface. Through rigorous comparative analysis with conventional methods, the outcome of this work demonstrates superior time efficiency while maintaining data integrity and ensuring comprehensive coverage for WLCSP. This proposed technique is expected to overcome the limitations of conventional approaches employed for scanning layered structures in WLCSP.
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Comment cette classification a été obtenuedéplier
Prédiction distillée sur la base complète
Imitation des enseignantsNi prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.
Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,000 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,001 | 0,001 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,000 |
| Science ouverte | 0,000 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,000 | 0,000 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,000 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découleClassification
machine, non validéePrédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.
Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».