An x-ray diffraction and Raman spectroscopic analysis of thin-films of silicon grown by ultrahigh-vacuum evaporation and the thin-film silicon continuum
Notice bibliographique
Résumé
The analysis presented herein draws upon a reservoir of experimental data that has been harvested from experiments performed on a collection of ultrahigh-vacuum evaporation prepared thin silicon film samples. A molecular beam epitaxy deposition setup was commissioned for the film preparations, these growths being performed for different growth temperatures and substrate selections. Grazing incidence x-ray diffraction and Raman spectroscopic measurements probed each thin silicon film’s microstructure. From the diffraction patterns, through applying Scherrer’s equation, the crystallite dimensions’ dependence on the growth temperature is resolved for each considered substrate selection; these results are confirmed through determinations of the crystallite dimensions through an evaluation of the relevant Raman spectral shifts. From the ensemble of Raman spectra that is available, drawing upon a recently developed Raman spectral processing protocol, full spectral decompositions are pursued. From these decompositions, the location, width, and character of each identified peak are noted, and the evolution of these decompositions in response to growth temperature variations is examined for the different substrate selections. Finally, an interpretation and a discussion about the results are presented, with the concept of thin-film silicon being on a continuum providing the framework for some aspects of this analysis.
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Comment cette classification a été obtenuedéplier
Prédiction distillée sur la base complète
Imitation des enseignantsNi prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.
Scores Codex et Gemma par catégorie
| Catégorie | Codex | Gemma |
|---|---|---|
| Métarecherche | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens strict) | 0,000 | 0,000 |
| Méta-épidémiologie (sens large) | 0,001 | 0,000 |
| Bibliométrie | 0,000 | 0,001 |
| Études des sciences et des technologies | 0,000 | 0,000 |
| Communication savante | 0,000 | 0,000 |
| Science ouverte | 0,000 | 0,000 |
| Intégrité de la recherche | 0,000 | 0,000 |
| Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger) | 0,000 | 0,000 |
Scores machine (provisoires)
Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.
Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.
score_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découleClassification
machine, non validéePrédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.
Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».