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Enregistrement W4415028107 · doi:10.1145/3766550

A Versatile Strategy for Comprehensive Data Collection and Retention in Embedded SoC Memories

2025· article· en· W4415028107 sur OpenAlex

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.

Notice bibliographique

RevueACM Transactions on Embedded Computing Systems · 2025
Typearticle
Langueen
DomaineComputer Science
ThématiqueVLSI and Analog Circuit Testing
Établissements canadiensInfineon Technologies (Canada)
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésBitmapAutomotive industryEncoding (memory)Data collectionComponent (thermodynamics)ChipSet (abstract data type)Test dataFlash (photography)Fault (geology)

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

In modern automotive system-on-chip (SoC) designs, large embedded flash memories have become a standard feature. Since they occupy a significant percentage of the die area, their impact on the SoCs’ overall yield is substantial, making them a critical component in the production process. Embedded memories are then deeply tested to unsure their reliability. The data collected through these tests are fundamental to chip designers and test engineers to iron out their designs and understand the most common failure mechanisms. A common approach for data collection is the generation of bitmaps based on the gathering of individual fail coordinates in a list-based fashion. Other more efficient compaction or compression approaches exist and all these approaches can use dedicated internal memories to store the result of a given test. Unfortunately, all the methods currently found in the literature do not allow diagnostic data retention along multiple tests, requiring constant and time-consuming communications with the external tester, increasing the test cost for the manufacturers. This article presents an on-chip algorithm to compact and retain diagnostic information from multi-step embedded memories testing. The foundation of this work lies in an efficient shape recognition and encoding algorithm. The collected information is stored in a dedicated nonvolatile on-chip memory. Information about the tests that generated a given set of fault shapes is also encoded in this dedicated diagnostic memory, enabling manufacturers to collect all the diagnostic information at the end of their test flow. Experimental results on over 110 Automotive SoCs made by Infineon TM show that using the proposed approach, 100% of the diagnostic information of devices undergoing a standard automotive-grade test flow is permanently encodable in a limited 24 KB diagnostic space while also consistently reducing the total test time of up to 53.8% with respect to traditional list-based approaches.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Simulation ou modélisation · Signal consensuel: aucune
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: aucune
Score de désaccord entre enseignants0,966
Score d'incertitude au seuil0,974

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,001
Études des sciences et des technologies0,0010,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,098
Tête enseignante GPT0,329
Écart entre enseignants0,231 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle