MétaCan
Menu
Retour à la cohorte
Enregistrement W4415970884 · doi:10.1109/tdmr.2025.3628387

Evolution of Electrical Transmission Characteristics in TSV and TGV Interconnect Structures Under Thermal Loading

2025· article· W4415970884 sur OpenAlexaff
Yangyang Zhou, Xiangxiang Zhong, He Diao, Bingxu Ma, Xing Fu, Ping Lai, Haozhong Wang, Jiahao Liu, Xiaoting Chen, Guoguang Lu, Hongtao Chen, Xiaofeng Yang

Notice bibliographique

RevueIEEE Transactions on Device and Materials Reliability · 2025
Typearticle
Langue
DomaineEngineering
Thématique3D IC and TSV technologies
Établissements canadiens123 Certification (Canada)
Organismes subventionnairesChangsha Science and Technology ProjectNational Social Science Fund of ChinaNational Key Research and Development Program of China
Mots-clésThrough-silicon viaInterconnectionThermal shockThermal expansionThermalTransmission (telecommunications)Delamination (geology)Electrical impedance

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Through silicon via (TSV) and through glass via (TGV) are critical for advanced chip packaging, enabling vertical interconnections and improving bandwidth. The increase in chip density leads to a dramatic rise in heat generation, which induces the significant coefficient of thermal expansion (CTE) mismatch in TSV and TGV and further induces internal stresses, potentially degrading electrical performance and reliability. This work presented a study of TSV and TGV interconnect structures, focusing on their electrical transmission characteristics under thermal loading, evaluating the reliability differences between TGV and TSV by using electrical transmission characteristics as the metric. The findings reveal that the electrical transmission characteristics of TGV generally outperform those of TSV. Especially, when optimized by increasing signal via spacing and adding additional grounding vias, the characteristics of TGV significantly enhance high-frequency performance. Furthermore, thermal shock measurements indicate that TSV experience rapid transmission characteristics degradation at lower shock cycles, while TGV degrade more slowly even at higher cycles. Based on microstructural analysis, we observe that TSV suffers from cracked insulation layers, leading to current leakage and transmission performance loss; TGV exhibits only minor delamination issues between the RDL and PI that do not significantly impact transmission characteristics. Under high temperature, TSV initially shows improved transmission performance due to air gap formation, but later degrade sharply as copper extrudes and bridges with the silicon substrate. In contrast, under high temperature, TGV exhibit a gradual increase in impedance due to crack expansion within the copper, but this effect remains minimal. TGV not only offers superior transmission performance but also demonstrates greater reliability under thermal loading compared to TSV.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction machine sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,001
Version: metacan-v3-hybrid-931329e0061cStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,001
Score d'incertitude au seuil0,003

Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,001
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0010,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,008
Tête enseignante GPT0,234
Écart entre enseignants0,226 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeExpérimental (laboratoire)
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations0
Publié2025
Routes d'admission1
Résumé présentoui

Explorer davantage

Même revueIEEE Transactions on Device and Materials ReliabilityMême sujet3D IC and TSV technologiesTravaux en français237 207