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Enregistrement W4416879996 · doi:10.37665/jsmtyhirn77834

Lead-Free Card Assembly and Rework for Column Grid Arrays

2004· article· W4416879996 sur OpenAlex

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.

Notice bibliographique

RevueJournal of Surface Mount Technology · 2004
Typearticle
Langue
DomaineEngineering
ThématiqueElectronic Packaging and Soldering Technologies
Établissements canadiensIBM (Canada)
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésReworkInterconnectionDesign for manufacturabilityColumn (typography)Reliability (semiconductor)GridPrinted circuit boardMicroelectronicsIntegrated circuit packaging

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

ABSTRACT IBM introduced copper column grid array (CuCGA) interconnect as the lead-free replacement for the lead-tin solder column on the ceramic column grid array (CCGA) (Figure 1). Like CCGA, CuCGA offers a high reliability packaging solution, enabling the use of ceramic chip carriers with excellent electrical and thermal performance. Figure 1: Copper column grid array (left) and CLASP CCGA (right). The move to eliminate lead in microelectronic packaging increases the complexity of processing large body size, high I/O packages. The development of manufacturable card assembly and rework processes in concert with the development of a new package interconnect structure is key to technology acceptance. Copper column interconnect (CuCGA) has been designed to meet the requirements of manufacturability, reliability, and electrical performance. Optimization of the structure for manufacturability focused on the robustness of the column during manufacturing handling and the ease of card assembly processing. The resulting card-side solder joint is key to the reliability of the interconnect. The interconnect geometry also influences electrical performance [1]. Evaluating these competing factors determined the final column design [2]. This paper focuses on the development and reliability evaluation of the CuCGA card assembly and rework processes. The goal of the process development was to adapt the successful SMT assembly process for CCGA to the developing standards for lead-free SMT processing. Successful integration of the assembly processing of the CuCGA into the developing tin-silver-copper (SnAgCu, or SAC) card assembly process posed challenges in the areas of placement, reflow, and rework. The optimization of these processes, and the proof of successful results demonstrated by reliability evaluations, will be discussed.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,001
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesMéta-épidémiologie (sens strict), Intégrité de la recherche
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,390
Score d'incertitude au seuil1,000

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,001
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0010,001
Méta-épidémiologie (sens large)0,0010,000
Bibliométrie0,0010,001
Études des sciences et des technologies0,0000,001
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0010,002
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,011
Tête enseignante GPT0,231
Écart entre enseignants0,221 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle