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Enregistrement W4416884832 · doi:10.37665/ppjeiwt59357

Reliability Studies of Flip Chip Package with Reflowable Underfill

2001· article· W4416884832 sur OpenAlex
Tie Wang, T.H. Chew, Y.X. Chew

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.

Notice bibliographique

RevuePan Pacific Symposium · 2001
Typearticle
Langue
DomaineEngineering
ThématiqueElectronic Packaging and Soldering Technologies
Établissements canadiensOptech (Canada)
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésFlip chipSolderingBridging (networking)Temperature cyclingAdhesiveCuring (chemistry)Die (integrated circuit)Delamination (geology)

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

ABSTRACT Reflowable underfill is originated to simplify the Flip-Chip assembly process. In this study, JEDEC level 3 moisture sensitivity preconditioning followed by thermal cycling (TCB, −55°C~125°C) was conducted. Two reflowable underfill mainly differentiated by curing kinetics and adhesion strength, namely Underfill A and Underfill C, were evaluated. Failure analysis was carried out via C-SAM and cross section. Unit failure that was electrically identified in present study was defined as occurrence of bridging and/or open circuit. The results showed that for packages assembled with Underfill A that has superior adhesion with silicon nitride passivation, all units can pass preconditioning but bridging commenced to appear at 750 cycles. Open circuitry was encountered between 1750 and 2000 cycles. While for Underfill C with fast cure characteristics and relatively weaker adhesion compared to Underfill A, bridging and open circuitry started to surface at 500 and 1250 cycles, respectively. Failure analysis indicated that bridging mainly resulted from solder bump extrusion through micro voids trapped between adjacent bumps during assembly process; meanwhile the gap between neighboring bumps is too close to prevent convergence of two extruded bumps. Open circuitry is originated by several factors such as insufficient wetting, underfill delamination, die crack, underfill crack etc. On the whole, no underfill delamination and die crack have been observed before 1000 cycles in present study. Most importantly, no solder crack that is the direct reflection of CTE mismatch has been observed throughout the whole reliability test. This fact suggests that assemblies with relatively-higher-CTE reflowable underfill still can meet general reliability standard.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesMéta-épidémiologie (sens strict)
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,096
Score d'incertitude au seuil1,000

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0010,001
Méta-épidémiologie (sens large)0,0010,000
Bibliométrie0,0000,001
Études des sciences et des technologies0,0000,001
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0000,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,022
Tête enseignante GPT0,249
Écart entre enseignants0,228 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle