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Enregistrement W4416885636 · doi:10.37665/ppcadjg70211

Residual Stress Correlation to ATC Reliability Scale in the μPGA-Solder Joint-PCB Pad System*

2005· article· W4416885636 sur OpenAlex

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.

Notice bibliographique

RevuePan Pacific Symposium · 2005
Typearticle
Langue
DomaineEngineering
ThématiqueElectronic Packaging and Soldering Technologies
Établissements canadiensHain Celestial (Canada)
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésSolderingDeflection (physics)Failure mode and effects analysisResidual stressInterconnectionBall grid arrayStrain gaugeResidualStress (linguistics)

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

ABSTRACT Mechanical stresses from various force fields are a major concern for solder joint reliability. Instantaneous failure on components such as BGA with Electroless Nickel Immersion Gold (ENIG) substrate metallization interconnects to solder joint, under large deflection and high strain rate, occurs when an uncontrollable source is imposed. The generally accepted resolution approach consists of reducing this impact but offers no physical basis with regards to solder joint reliability. Instead, this reduction strategy may simply shift the failure mode from instantaneous failure to early fatigue failure due to the residual stress. In this study, mechanical stress is exerted onto a μPGA-compliance pin-Solder bump-PCB Pad interconnect system on a test board by Four-Point-Bending. Loading speed and deflection are used as the control parameters to derive the residual stress correlation to the reliability scale. First, the critical instantaneous loading strain rate and deflection (Kcr) is derived by real-time monitoring of resistance in daisy chain, loading speed & deflection in tensile tester, and strain in gages mounted to the test PCB. Then multiple percentages of the critical Kcr are applied to the interconnect system. Finally, the residue stress affected test board is tested in the Accelerated Temperature Cycling (ATC) oven and failure cycle and failure mode are analyzed. Early failures of the high loading speed and deflection affected μPGA-Solder Joint-PCB Pad systems were observed after 1500 ATC reliability testing. Both interfacial failures at pin to solder joint and pad lifting were observed in the system. This finding proved our hypothesis presented at 2002 that residual stress would reduce the fatigue life of interconnect bonding to package substrate and PCB pad. Empirical fatigue life N-residual strain e relationship shows logical inference to the crack propagation either in transgranular or intergranular fracture mode. The empirical fatigue life projection methodology is proposed. Both mathematical and graphic solutions are derived based on the empirical approach. The practical mechanical process parameters, loading speed and deflection are able to link to the fatigue life. Three process steps, forward fatigue life prediction & residual stress reduction, backward process improvement and tooling re-design by loading speed and deflection, and long term process control and management are proposed and implemented.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,002
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesMéta-épidémiologie (sens strict)
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Simulation ou modélisation · Signal consensuel: Simulation ou modélisation
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,185
Score d'incertitude au seuil1,000

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0020,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0010,001
Méta-épidémiologie (sens large)0,0010,000
Bibliométrie0,0000,001
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0010,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,009
Tête enseignante GPT0,210
Écart entre enseignants0,201 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle