MétaCan
Menu
Retour à la cohorte
Enregistrement W7014654790

A probabilistic test instrument using sigma-delta phase signal generation technique for mixed signal embedded test

2012· dissertation· en· W7014654790 sur OpenAlexfundno aff

Notice bibliographique

RevueeScholarship@McGill (McGill) · 2012
Typedissertation
Langueen
DomaineComputer Science
ThématiqueVLSI and Analog Circuit Testing
Établissements canadiensnon disponible
Organismes subventionnairesNatural Sciences and Engineering Research Council of Canada
Mots-clésDevice under testSIGNAL (programming language)Probabilistic logicBuilt-in self-testVoltageJitterAutomatic test equipmentSampling (signal processing)Measure (data warehouse)Electronic circuit
DOInon disponible

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

A probabilistic test instrument is proposed for mixed-signal embedded test applications. The system architecture of the instrument and its implementation is presented. The instrument can be used to inject and extract the timing and voltage information associated with signals in high-speed transceiver circuits that are commonly found in data communication applications. Using statistical methods, the probability distributions associated with these signals can be extracted using a simple circuit called a probability extraction unit, consisting of a few simple digital logic gates. At the core of this work is the use of ΣΔ phase-encoding technique to generate both the voltage and timing (phase) references, or strobes used for high-speed sampling. This technique is also used for generating the test stimulant for the device-under-test, or DUT as a shorthand notation. Experimental results reveal the sampling time strobe can be programmed over a phase range of 45 degrees with a phase step of 1 degree at a fixed voltage reference. The DUT stimulant and the timing and voltage references are all programmable in software. This provides additional flexibility and versatility when conducting a test. A prototype of the proposed test instrument was implemented using discrete components assembled on a printed-circuit board and shown to be capable of measuring the output jitter distribution associated with a clock and data signal of a DUT. It was further extended to measure the phase and frequency response of various analog channels associated with the DUT. The performance of the instrument was evaluated by comparing the test results with those obtain using other test techniques, independent of the instrument.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,002
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,002
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesMéta-épidémiologie (sens strict), Études des sciences et des technologies
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,216
Score d'incertitude au seuil0,999

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0020,002
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0010,001
Méta-épidémiologie (sens large)0,0010,001
Bibliométrie0,0010,001
Études des sciences et des technologies0,0020,000
Communication savante0,0010,002
Science ouverte0,0020,000
Intégrité de la recherche0,0010,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,049
Tête enseignante GPT0,282
Écart entre enseignants0,233 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.

Devis d'étudeExpérimental (laboratoire)
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations0
Publié2012
Routes d'admission1
Résumé présentoui

Explorer davantage

Même revueeScholarship@McGill (McGill)Même sujetVLSI and Analog Circuit TestingTravaux en français237 207