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Enregistrement W7131225332 · doi:10.1109/eptc67330.2025.11392596

Defect Z-Depth Determination in 2.5D ICs Using Magnetic Field Imaging

2025· article· W7131225332 sur OpenAlexaff
Fanyi Cai, J. Jayabalan, Lucas Lum, Bernice Zee, Jiann Min Chin, Younghoon Lim

Notice bibliographique

Revuenon disponible
Typearticle
Langue
DomaineEngineering
ThématiqueIntegrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
Établissements canadiensAdvanced Micro Devices (Canada)
Organismes subventionnairesNational Research Foundation Singapore
Mots-clésNondestructive testingReliability (semiconductor)Magnetic fieldIntegrated circuitPenetration depthField (mathematics)Image resolutionFast Fourier transform

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Defect localization and accurate depth determination in advanced heterogeneous integration (HI) packaging integrated circuits (ICs), particularly$2.5 \mathrm{D} / 3 \mathrm{D}$ICs, is critical for failure analysis and reliability assessment. Beyond lateral XY defect localization, vertical Z-depth estimation is essential for identifying the failure layer in stacked configurations, which is a challenge that conventional non-destructive testing (NDT) methods cannot effectively address. Due to restricted penetration depth and inadequate spatial resolution caused by the complex, multilayered material composition of HI packaging, conventional NDT techniques face intrinsic limitations in localizing defects along the z-axis. Magnetic field imaging (MFI) has emerged as a promising alternative, providing non-invasive and highresolution sensing of current-induced magnetic fields while being insensitive to variations in complex material structure in HI packaging. However, despite its advantages, MFI inherently produces intricate magnetic field data that require algorithms for depth extraction, an area that remains underexplored in both research and practical applications. In this paper, we propose an MFI-based variational method (VM) that employs fast Fourier transform (FFT)-based magnetic inverse optimization, grounded in the Biot-Savart law, to enable Z-depth determination of shortcircuit defects in 2.5D ICs. The effectiveness of the proposed VM approach is demonstrated on two representative defective 2.5D graphics processing units (GPUs): a signal-to-ground short at the C4 bump and a power-to-ground short at the μbump. These defect types are among the most commonly encountered failure modes in advanced 2.5D ICs. Validation against X-ray scans shows defect depth estimation errors of$\mathbf{5}-25 \mu ~\mathrm{m}$and 5$\mu \mathrm{m}$, respectively, thereby advancing the fault isolation capability for complex 2.5D/3D ICs.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction machine sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: metacan-v3-hybrid-931329e0061cStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: aucune
Score de désaccord entre enseignants0,001
Score d'incertitude au seuil0,003

Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0010,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,012
Tête enseignante GPT0,249
Écart entre enseignants0,237 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeExpérimental (laboratoire)
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations1
Publié2025
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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