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Constructeur de cohorte

4 299 418 travaux, canadiens par l’une de quatre routes.

Chaque état de filtre est une URL; l’URL est la requête; la requête est citable via /q/⟨hash⟩. La page, l’API et l’export analysent les mêmes paramètres.

La cohorte courante, diffusée en continu depuis la base de données : toutes les colonnes des travaux, les étiquettes machine, les scores provisoires et l'état de validation de chaque rangée. Les exportations sont plafonnées à 100 000 rangées. Crée un lien /q/ permanent pour cette requête exacte. Les mêmes filtres produisent toujours le même lien, qui que soit le demandeur.

Terme de recherche
Auteur ou autrice
Période
Ordre
Langue
Type
Domaine
Revue
Journal of Electronic Testing
Sujet
Rétractation
Résumé
Source des données probantes
Devis d'étude
Accord des étiquettes
État des étiquettes

Les étiquettes directes de Codex et Gemma sont non validées et clairsemées. Les prédictions distillées couvrent la base complète et sont elles aussi non validées. Choisissez explicitement la source; l'absence d'une étiquette directe n'est jamais une étiquette négative.

affaffiliation
fundbailleur
venuerevue
aboutsujet

Les quatre voies se composent : exigez la voie du financement et excluez l'affiliation pour obtenir la strate financée-seulement qu'aucune base fondée sur l'affiliation ne voit jamais.

53 résultats · 1 filtre actif ·
Résultats par année
20002021
Date de publication
Catégories
Étiquettes machine · couverture clairsemée
Preuves
Langue
Type
Citations
Un travail non étiqueté est inconnu, pas un négatif. La couverture est rapportée à chaque requête.
53 travaux dans la cohorte · sur 4 299 418page 1 sur 2

Les étiquettes couvrent 1 des 53 travaux de cette cohorte. Les autres sont non étiquetés, ce qui n'est pas une étiquette négative : la table des étiquettes est clairsemée aujourd'hui et s'enrichit au fil des rondes d'étiquetage.

Les prédictions distillées couvrent 53 des 53 travaux de cette cohorte. Ces prédictions portent le statut machine_predicted_unvalidated. Le mode candidate est l'union; le consensus est l'intersection.

afffundsans résuménon étiqueté
Double Node Upsets Hardened Latch Circuits
Yuan‐Qing Li, Haibin Wang, Suying Yao, Xi Long Yan, Zhiyuan Gao, Jiangtao Xu
2015· article· en· Journal of Electronic Testing· Engineering
prédiction distillée:candidate · aucuneconsensus · aucune
77
citations
affsans résuménon étiqueté
Online Testable Approaches in Reversible Logic
N. M. Nayeem, Jacqueline E. Rice
2013· article· en· Journal of Electronic Testing· Computer Science
prédiction distillée:candidate · aucuneconsensus · aucune
17
citations
affsans résuménon étiqueté
CMOS Differential and Absolute Thermal Sensors
A. Syal, Victor Lee, A. Ivanov, Josep Altet
2002· article· en· Journal of Electronic Testing· Engineering
prédiction distillée:candidate · aucuneconsensus · aucune
14
citations
afffundsans résuménon étiqueté
Radiation Tolerant SRAM Cell Design in 65nm Technology
JianAn Wang -, Xue Wu, Haonan Tian, Lixiang Li, Shuting Shi, Li Chen
2021· article· en· Journal of Electronic Testing· Engineering
prédiction distillée:candidate · aucuneconsensus · aucune
6
citations
afffundsans résuménon étiqueté
Single Event Resilient Dynamic Logic Designs
Haibin Wang, M.-L. Li, Li Chen, R. Liu, Sanghyeon Baeg, Shi-Jie Wen +3 autres
2014· article· en· Journal of Electronic Testing· Engineering
prédiction distillée:candidate · aucuneconsensus · aucune
4
citations
affsans résuménon étiqueté
Applications for Low Frequency Impedance Analysis Systems
Matthew Giassa, Ajit Khosla, Bonnie L. Gray, Ash M. Parameswaran, Kirpal Kohli, Ramani Ramaseshan
2009· article· en· Journal of Electronic Testing· Engineering
prédiction distillée:candidate · aucuneconsensus · aucune
3
citations
affsans résuménon étiqueté
An Analog Circuit Fault Characterization Methodology
Yvan Maidon, Thomas Zimmer, Andr� Ivanov
2005· article· en· Journal of Electronic Testing· Computer Science
prédiction distillée:candidate · aucuneconsensus · aucune
2
citations
affsans résuménon étiqueté
Design for Delay Testability in High-Speed Digital ICs
Hans G. Kerkhoff, H. Speek, M. Shashani, Manoj Sachdev
2001· article· en· Journal of Electronic Testing· Computer Science
prédiction distillée:candidate · aucuneconsensus · aucune
2
citations
affsans résuménon étiqueté
Testability Trade-Offs for BIST Data Paths
Nicola Nicolici, Bashir M. Al‐Hashimi
2004· article· en· Journal of Electronic Testing· Computer Science
prédiction distillée:candidate · aucuneconsensus · aucune
0
citations
affsans résuménon étiqueté
On Faster IDDQ Measurements
Claude Thibeault
2003· article· en· Journal of Electronic Testing· Engineering
prédiction distillée:candidate · aucuneconsensus · aucune
0
citations

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