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Enregistrement W1500025436 · doi:10.1149/1.1577339

Ultrathin Zirconium Silicate Films Deposited on Si(100) Using Zr(O[sup i]-Pr)[sub 2](thd)[sub 2], Si(O[sup t]-Bu)[sub 2](thd)[sub 2], and Nitric Oxide

2003· article· en· W1500025436 sur OpenAlexaff
H. W. Chen, T.Y. Huang, D. Landheer, Xiaohua Wu, S. Moisa, G. I. Sproule, J. K. Kim, W.N. Lennard, T.-S. Chao

Notice bibliographique

RevueJournal of The Electrochemical Society · 2003
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueSemiconductor materials and devices
Établissements canadiensWestern UniversityNational Research Council CanadaInstitute for Microstructural Sciences
Organismes subventionnairesNational Science CouncilNorth Carolina State University
Mots-clésX-ray photoelectron spectroscopyMaterials scienceAnalytical Chemistry (journal)Amorphous solidChemical stateChemical vapor depositionChemical engineeringNanotechnologyChemistryCrystallography

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Ultrathin Zr silicate films were deposited using Zr(O i -Pr) 2 (tetramethylheptanedione,thd) 2 , Si(O t -Bu) 2 (thd) 2 and nitric oxide in a pulse-mode metallorganic chemical-vapor deposition apparatus with a liquid injection source. High resolution transmission electron microscopy, atomic force microscopy, X-ray photoelectron spectroscopy XPS, and medium energy ion scattering were employed to investigate the structure, surface roughness, chemical state, and composition of the films. The nitric oxide used as oxidizing gas, instead of O 2 , not only reduced the thickness of the interfacial layer but also removed the carbon contamination effectively from the bulk of the films. The as-deposited Zr silicate films with a Si:Zr ratio of 1.3:1 were amorphous, with an amorphous interfacial layer 0.3-0.6 nm thick. After a spike anneal in oxygen and a 60 s nitrogen anneal at 850C, these films remained amorphous throughout without phase separation, but the interfacial layer increased in thickness. No evidence of Zr-C and Zr-Si bonds were found in the films by XPS and carbon concentrations 0.1 atom %, the detection limit, were obtained. The hysteresis, fixed charge density, and leakage current determined from capacitance-voltage analysis improved significantly after postdeposition anneals at 850C and the films exhibited promising characteristics for deep submicrometer metal-oxidesemiconductor devices.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,001
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesMéta-épidémiologie (sens strict)
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Expérimental (laboratoire) · Signal consensuel: Expérimental (laboratoire)
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,006
Score d'incertitude au seuil1,000

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0010,001
Méta-épidémiologie (sens large)0,0010,001
Bibliométrie0,0000,001
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0010,000
Intégrité de la recherche0,0010,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,010
Tête enseignante GPT0,211
Écart entre enseignants0,201 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.

Devis d'étudeExpérimental (laboratoire)
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations6
Publié2003
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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