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Enregistrement W1543135069 · doi:10.1109/intlec.2004.1401516

Failures of MOSFETs in terrestrial power electronics due to single event burnout

2005· article· en· W1543135069 sur OpenAlex

Pourquoi ce travail est dans la base

Une base qui oublie comment elle a trouvé un travail ne peut pas être vérifiée. Voici les voies qui ont admis celui-ci.

affAu moins un auteur déclare une institution canadienne dans l'instantané OpenAlex épinglé.

Notice bibliographique

Revuenon disponible
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueRadiation Effects in Electronics
Établissements canadiensTRIUMF
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésElectronicsSemiconductor devicePower MOSFETCosmic rayMOSFETElectrical engineeringAvionicsPower electronicsPower semiconductor deviceHigh voltagePhysicsVoltageMaterials scienceEngineeringNuclear physicsAerospace engineeringTransistorNanotechnology

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Failures of semiconductor devices caused by cosmic radiation exposure is well known in space and avionics applications. However it is not well known that similar issues exist, to a lesser extent, for terrestrial applications. We have conducted research into the phenomenon of single event burnout (SEB) of high voltage power electronics semiconductor devices, specifically MOSFETs that are ubiquitously used in modern switchmode power electronics. The research revealed that SEB and related effects, caused by high-energy neutrons generated by the impact of cosmic radiation on our upper atmosphere, are a real possibility at ground level. An introduction and overview of the SEB effect, a review of existing literature indicating the flux and energy distribution of neutrons that reach the earth's surface and an overview of the structure of MOSFET devices indicating why they could be susceptible to the SEB effect is given. Experiments were conducted which demonstrated that random failures of high voltage MOSFET devices, when they are biased in the off state, do occur at a much higher rate than should otherwise be expected. A summary of experiments that were carried out at the TRIUMF cyclotron laboratory on both individual MOSFETs and on electronic equipment containing MOSFETs is presented. These experiments provide strong evidence that failures of MOSFETs and circuits using MOSFETs can be caused by neutrons with energy distributions similar to that experienced on the earth's surface.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Simulation ou modélisation · Signal consensuel: Simulation ou modélisation
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,459
Score d'incertitude au seuil0,538

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,004
Tête enseignante GPT0,213
Écart entre enseignants0,210 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

En bref

Citations13
Publié2005
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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