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Enregistrement W1968245534 · doi:10.1109/usnc-ursi.2014.6955648

Statistical modeling of RF/microwave FET devices

2014· article· en· W1968245534 sur OpenAlexaff
Qi‐Jun Zhang, Lei Zhang, Peter H. Aaen

Notice bibliographique

Revuenon disponible
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueSemiconductor Lasers and Optical Devices
Établissements canadiensCarleton University
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésStatistical modelNonlinear systemPopulationComputer scienceSIGNAL (programming language)Electronic engineeringSignal processingArtificial intelligenceEngineeringPhysicsDigital signal processing

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

Summary form only given. In mass production of RF/microwave circuits, manufacturing tolerances and process variations will make the circuits coming out of the same production line to behave differently. Statistical modeling of RF/microwave passive and active devices taking into account these random variations are important for yield-driven design. While statistical modeling for small-signal linearized device models is fairly mature, the statistical large-signal model for nonlinear devices remains a challenge, due to the expense of nonlinear measurements, the difficulties in nonlinear statistical problems, and the cost of EM evaluations of packaging structures. We describe recent progress in this area exploiting statistical space mapping concepts. Using such a concept, we expand a large-signal nominal model into a large-signal statistical model. The nominal model is extracted or trained from one complete set of large-signal data. The statistical property of the model is achieved by a dynamic mapping between the nominal model and the statistical samples of a given population of devices. This method reduces the otherwise prohibitive task of creating a population of nonlinear device models into a simplified one of creating a population of mapping functions. Two mapping approaches are presented, one use linear mapping for small-variations in parameters, and another using neuro-space mapping for large variations in device parameters (L. Zhang, Q.J. Zhang and J. Wood, “Statistical neuro-space mapping technique for large-signal modeling of nonlinear devices,” IEEE Trans. Microwave Theory Tech., vol. 56, no. 11, pp. 2453-2467, Nov. 2008.). Furthermore, yield-based design of microwave circuits, taking into account random variations in circuit parameters will also be described. Examples of statistical modeling of RF/microwave transistors, and use of the models in statistical analyses of microwave passive and active circuits will also be presented.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction distillée sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Apprise à partir de 10 348 étiquettes directes de Codex et de 10 348 étiquettes directes de Gemma. Le mode candidate est l'union des têtes enseignantes seuillées; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont ni des étiquettes humaines ni des étiquettes directes de modèles de pointe.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,000
Version: codex-gemma-dda1882f352aStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Simulation ou modélisation · Signal consensuel: Simulation ou modélisation
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: Empirique
Score de désaccord entre enseignants0,591
Score d'incertitude au seuil0,310

Scores Codex et Gemma par catégorie

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0000,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0000,000
Bibliométrie0,0000,000
Études des sciences et des technologies0,0000,000
Communication savante0,0000,000
Science ouverte0,0000,000
Intégrité de la recherche0,0000,000
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0000,000

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,013
Tête enseignante GPT0,218
Écart entre enseignants0,205 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule tête enseignante, pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeSimulation ou modélisation
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations1
Publié2014
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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