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Enregistrement W2013929975 · doi:10.1109/ectc.2007.373932

Integrated Modeling of C4 Interconnects

2007· article· en· W2013929975 sur OpenAlexaff
Julien Sylvestre

Notice bibliographique

Revuenon disponible
Typearticle
Langueen
DomaineEngineering
ThématiqueElectronic Packaging and Soldering Technologies
Établissements canadiensIBM (Canada)
Organismes subventionnairesnon disponible
Mots-clésFlip chipBall grid arrayInterconnectionSolderingParametric statisticsFinite element methodChipComputer scienceReliability (semiconductor)Boundary value problemMechanical engineeringIntegrated circuit packagingMaterials scienceElectronic engineeringEngineeringStructural engineeringMathematicsPhysicsComposite material

Résumé

récupéré en direct d'OpenAlex

An extensive methodology for the numerical modeling of C4 interconnects in flip chip organic packages is presented, with particular emphasis on the variability introduced by the manufacturing process. A number of different analytical and experimental techniques are used to develop a complete mechanical model of the interconnect, in order to infer the characteristics of various packaging options with respect to the reliability of C4 interconnects. A fully parametric "macroscopic" finite element model of the entire module (laminate, underfill, chip, lid structure) is first constructed, and is used to define boundary conditions for "microscopic" models of the interconnects. A flexible software system that allows the complete parameterization of the module (in terms of its topology, scales, and material properties) is described. The geometry of the interconnect is calculated parametrically from first principles using a model of the solder joint in fluid phase, taking into account various properties of the interconnect such as the solder volume, the pad diameters, the relative position of the pads, etc. Data validating this fluid model on BGA and on C4 solder balls are also presented. Finally, the variability inherent to manufacturing flip chip packages is emulated by sampling some of the model parameters from random distributions (examples of such parameters include laminate warpage and solder joint volume, and their influence on global package properties, such as the underfilled gap between laminate and chip). Illustrative examples of applying this methodology for problem solving in a manufacturing environment are also presented.

Récupéré en direct depuis OpenAlex et désinversé. Les résumés ne sont pas conservés dans cette base de données : les index inversés représentent 8,6 Go des 9,3 Go de texte de la base, et le serveur dispose de 13 Go libres.

Comment cette classification a été obtenuedéplier

Prédiction machine sur la base complète

Imitation des enseignants

Ni prévalence calibrée, ni vérité terrain. Validation humaine à venir. Le volet Gemma est une étiquette directe du modèle pour chaque travail de la base, lue sur la notice réduite au titre. Le volet Codex est un classifieur appris des 10 348 étiquettes directes de Codex et calibré sur les taux pondérés de l'échantillon; les champs sans appui suffisant ne portent aucun appel Codex. Le mode candidate est l'union des deux volets; le consensus est leur intersection. Ces sorties portent le statut machine_predicted_unvalidated et ne sont pas des étiquettes humaines.

score de la tête « metaresearch » (Codex)0,000
score de la tête « metaresearch » (Gemma)0,001
Version: metacan-v3-hybrid-931329e0061cStatut de validation: machine_predicted_unvalidated
Catégories candidatesaucune
Catégories consensuellesaucune
DomaineSignal candidat: aucune · Signal consensuel: aucune
Devis d'étudeSignal candidat: Simulation ou modélisation · Signal consensuel: Simulation ou modélisation
GenreSignal candidat: Empirique · Signal consensuel: aucune
Score de désaccord entre enseignants0,006
Score d'incertitude au seuil0,018

Scores du classifieur distillé par catégorie (deux têtes)

CatégorieCodexGemma
Métarecherche0,0000,001
Méta-épidémiologie (sens strict)0,0010,000
Méta-épidémiologie (sens large)0,0010,001
Bibliométrie0,0010,001
Études des sciences et des technologies0,0010,001
Communication savante0,0010,001
Science ouverte0,0020,001
Intégrité de la recherche0,0010,001
Charge utile insuffisante (le modèle a refusé de juger)0,0050,002

Scores machine (provisoires)

Les deux têtes enseignantes du modèle étudiant, lues sur ce travail. Un score ordonne la base pour la relecture; il n'affirme jamais une catégorie, et le statut de validation accompagne chaque rangée tel quel.

Scores de référence d'un modèle non mature (critères de maturité non atteints, 7 itérations). Un score ordonne; il n'affirme jamais une catégorie.

Tête enseignante Opus0,014
Tête enseignante GPT0,217
Écart entre enseignants0,202 · la distance entre les deux têtes enseignantes sur ce seul travail
Statut de validationscore_only:v0-immature-baseline · tel quel depuis la passe de notation : score_only signifie que le nombre peut ordonner les travaux, et qu'aucune étiquette de catégorie n'en découle

Classification

machine, non validée

Prédiction automatique; un appel candidat d’une seule source (Gemma direct ou Codex distillé), pas un consensus.

Les modèles n’ont appliqué aucune catégorie : rien dans la taxonomie ne correspondait à ce travail.
Devis d'étudeSimulation ou modélisation
Domainenon disponible
GenreEmpirique

Le détail, modèle par modèle et score par score, se trouve en fin de page sous « Comment cette classification a été obtenue ».

En bref

Citations17
Publié2007
Routes d'admission1
Résumé présentoui

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